[发明专利]用于航天器的元器件的测试方法在审
| 申请号： | 201711071588.X | 申请日： | 2017-11-03 |
| 公开（公告）号： | CN107870276A | 公开（公告）日： | 2018-04-03 |
| 发明（设计）人： | 雷剑宇;李光日;霍佳婧;王冉;于磊;张振华 | 申请（专利权）人： | 北京空间技术研制试验中心 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01M99/00 |
| 代理公司： | 北京谨诚君睿知识产权代理事务所(特殊普通合伙)11538 | 代理人： | 陆鑫,延慧 |
| 地址： | 100094 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种航天器元器件的测试方法，包括以下步骤a.对航天器元器件的功能和性能进行边界测试；b.对航天器元器件的承受外界环境的能力进行测试。根据本发明的航天器元器件的测试方法能够准确模拟测试真实应用环境和工作状态下的航天器元器件，尤其是应用于单机设备后，整机测试时的航天器元器件。测试效率高，测试结果准确，可靠。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 航天器 元器件 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种用于航天器的元器件的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：a.对用于航天器的元器件的功能和性能进行边界测试；b.对用于航天器的元器件的承受外界环境的能力进行测试。
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