[发明专利]用于航天器的元器件的测试方法在审
| 申请号： | 201711071588.X | 申请日： | 2017-11-03 |
| 公开（公告）号： | CN107870276A | 公开（公告）日： | 2018-04-03 |
| 发明（设计）人： | 雷剑宇;李光日;霍佳婧;王冉;于磊;张振华 | 申请（专利权）人： | 北京空间技术研制试验中心 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01M99/00 |
| 代理公司： | 北京谨诚君睿知识产权代理事务所(特殊普通合伙)11538 | 代理人： | 陆鑫,延慧 |
| 地址： | 100094 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 航天器 元器件 测试 方法 | ||
1.一种用于航天器的元器件的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
a.对用于航天器的元器件的功能和性能进行边界测试；
b.对用于航天器的元器件的承受外界环境的能力进行测试。
2.根据权利要求1所述的用于航天器的元器件的测试方法，其特征在于，在所述a步骤中，所述边界测试的项目包括多机容错、软件跑飞、强制复位和输入电平拉偏。
3.根据权利要求1所述的用于航天器的元器件的测试方法，其特征在于，在所述b步骤中，所述外界环境包括温度环境、湿度环境和力学环境。
4.根据权利要求2所述的用于航天器的元器件的测试方法，其特征在于，所述多机容错包括主备机正常及故障切换模式考核。
5.根据权利要求2所述的用于航天器的元器件的测试方法，其特征在于，所述软件跑飞包括软件跑飞机理及看门狗电路考核。
6.根据权利要求2所述的用于航天器的元器件的测试方法，其特征在于，所述强制复位包括软件复位以及硬件断电重启。
7.根据权利要求2所述的用于航天器的元器件的测试方法，其特征在于，所述输入电平拉偏为在输入电压的基础上进行15％以上的拉偏。
8.根据权利要求3所述的用于航天器的元器件的测试方法，其特征在于，所述温度环境通过交变热循环试验产生；
所述交变热循环的高温段和低温段的持续时间均为至少8小时，并且高温段和低温段之间切换的变温速率至少为3℃/min。
9.根据权利要求8所述的用于航天器的元器件的测试方法，其特征在于，在高湿段环境下，所述湿度环境的湿度至多为95％RH。
10.根据权利要求9所述的用于航天器的元器件的测试方法，其特征在于，所述力学环境为在所述高温段和所述低温段各施加至少一次随机振动，且每次振动持续1分钟以上。
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