[发明专利]用于测试集成电路及包含所述集成电路的电路板的测试系统、方法有效
| 申请号： | 201711070993.X | 申请日： | 2017-11-03 |
| 公开（公告）号： | CN109765469B | 公开（公告）日： | 2022-06-24 |
| 发明（设计）人： | 张佑榕;廖纬凯;林明庆;曾奎皓 | 申请（专利权）人： | 日月光半导体制造股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 蕭輔寬 |
| 地址： | 中国台湾高雄市楠梓*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 一种测试系统包含减法器及除法器。所述减法器经配置以接收正测试的电路的第一电压及所述电路的第二电压，且导出所述第一电压与所述第二电压之间的差。所述除法器经配置以接收所述第一电压与所述第二电压之间的所述差，且通过将(i)所述第一电压与所述第二电压之间的所述差除以(ii)施加到所述电路的第一电流与施加到所述电路的第二电流之间的差，导出所述电路的电阻。所述第一电压对应于所述第一电流，且所述第二电压对应于所述第二电流。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 集成电路 包含 电路板 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测试系统，其包括：减法器，其经配置以接收正测试的电路的第一电压及所述电路的第二电压，且导出所述第一电压与所述第二电压之间的差；及除法器，其经配置以接收所述第一电压与所述第二电压之间的所述差，且通过将(i)所述第一电压与所述第二电压之间的所述差除以(ii)施加到所述电路的第一电流与施加到所述电路的第二电流之间的差，导出所述电路的电阻，其中所述第一电压对应于所述第一电流，且所述第二电压对应于所述第二电流。
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