[发明专利]一种基于泥质校正的含水饱和度模型的建立、仿真方法

摘要

本发明涉及一种基于泥质校正的含水饱和度模型的建立、仿真方法，其中建立方法包括：确定泥质含量Vsh与深电阻率Rd之间的关系；根据Vsh与Rd之间的关系，确定泥质电阻率Rsh与深电阻率Rd之间的比值系数C；将储层真实电阻率Rt与深电阻率Rd之间的比值设为电阻率校正系数Ksh，并根据含泥质储层之间的并联耦合关系以及比值系数C，确定Ksh与Vsh之间的关系；根据电阻率校正系数Ksh和深电阻率Rd建立基于泥质校正的含水饱和度模型。本发明通过分析泥质含量对地层真电阻率的影响，对所测得的地层电阻率进行泥质校正，可将地层视作消除了泥质含量的“纯地层”，符合经典阿尔奇公式适用范围，根据校正泥质含量之后的地层真电阻率建立含水饱和度的计算模型，从而提高计算的精度。

主权项

一种基于泥质校正的含水饱和度模型的建立方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1，由泥质含量Vsh对深电阻率Rd的影响，确定泥质含量Vsh与深电阻率Rd之间的关系；步骤2，根据泥质含量Vsh与深电阻率Rd之间的关系，确定泥质电阻率Rsh与深电阻率Rd之间的比值系数C；步骤3，将储层真实电阻率Rt与深电阻率Rd之间的比值设为电阻率校正系数Ksh，并根据含泥质储层之间的并联耦合关系以及泥质电阻率Rsh与深电阻率Rd之间的比值系数C，确定电阻率校正系数Ksh与泥质含量Vsh之间的关系；步骤4，根据电阻率校正系数Ksh和深电阻率Rd建立基于泥质校正的含水饱和度模型，其数学表达式为：Sw=abRwKshRdφmn]]>其中，Sw为含水饱和度，Rw为地层水电阻率，a为与岩性有关的岩性系数，b为与岩性有关的常数，φ为地层孔隙度，m为胶结指数、n为饱和度指数。