[发明专利]芯片高精度电阻自校准电路在审
| 申请号： | 201710949744.1 | 申请日： | 2017-10-13 |
| 公开（公告）号： | CN107741757A | 公开（公告）日： | 2018-02-27 |
| 发明（设计）人： | 周贵明 | 申请（专利权）人： | 广州市时芯电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G05F1/625 | 分类号： | G05F1/625 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 510850 广东省广州市花都区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种芯片高精度电阻自校准电路，集成电路芯片中片上高精度电阻的自校准产生电路，涉及芯片设计技术领，特别是高性能模拟芯片的设计技术，采用了片上自校准方式，在不需要片外高精度电阻的情况下，采用充放电方式实现片上电阻的自校正，实现片上电阻从+/‑20%的偏差减小到+/‑5%以内。该校准方法需要片上高精度电容一起协同合作，采用65nm 工艺节点以下的工艺，实现片上高精度电阻，精度误差从原来的+/‑20% 缩小到+/‑5% 以内，使芯片上的各种高精度敏感电路的设计偏差减小，大大提高芯片的量产率。同时，这种校准方式不需要采用片外高精度电阻为基准参考，可以省去片外基准电阻的费用和出场校准时间，从而也节省了芯片量产和应用的成本。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 高精度 电阻 校准 电路 | ||
【主权项】：
一种芯片高精度电阻自校准电路，其特征包括：片上晶体振荡器或稳定时钟产生源（1），片上RC 充放电校准时钟产生电路模块（2），片上RC 充电电路（3），片上RC 放电电路（4），片上高精度电容（5）， 片上开关电阻阵列（6），比较器模块（7），数字检测判决电路（8），模拟参考电压产生模块（9），稳压电源模块（10）。
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