[发明专利]测试装置及其测试电路板有效
申请号: | 201710944186.X | 申请日: | 2017-10-11 |
公开(公告)号: | CN109655643B | 公开(公告)日: | 2020-12-01 |
发明(设计)人: | 曾瀚升;廖江鹏 | 申请(专利权)人: | 致茂电子(苏州)有限公司 |
主分类号: | G01R1/28 | 分类号: | G01R1/28;G11C7/10 |
代理公司: | 北京先进知识产权代理有限公司 11648 | 代理人: | 张觐;王海燕 |
地址: | 215000 江苏省苏州市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种测试装置,包括至少一测试电路板,每一该测试电路板均具有独立运作能力,且每一该测试电路板包括:一缓冲存储器模块用于自一动态随机存取存储器读取并储存多个测试向量;一存储器接口控制器储存读取指令,以供该缓冲存储器模块读取该些测试向量;一测试向量产生器依据一测试微指令中的存储器位置自该缓冲存储器模块读取该多个测试向量之一,并以该读取的测试向量产生一测试信号;及一传输电路用于发送该测试向量产生器所产生的一测试控制信号,或接收另一测试控制信号并传送至该测试向量产生器。 | ||
搜索关键词: | 测试 装置 及其 电路板 | ||
【主权项】:
1.一种测试装置,其特征在于,包括至少一测试电路板,每一测试电路板均用于连接一动态随机存取存储器,以读取该动态随机存取存储器中的测试向量并产生测试信号,其中每一该测试电路板均具有独立运作能力,且每一该测试电路板包括:一缓冲存储器模块,用于电性连接至该动态随机存取存储器,并用于自该动态随机存取存储器读取并储存多个测试向量;一存储器接口控制器,连接该缓冲存储器模块,且该存储器接口控制器至少储存读取指令,以供该缓冲存储器模块从该动态随机存取存储器读取该些测试向量;一测试向量产生器,连接该缓冲存储器模块,且依据一测试微指令中的存储器位置自该缓冲存储器模块读取该多个测试向量之一,并以该读取的测试向量产生一测试信号;以及一传输电路,连接该测试向量产生器,且该传输电路用于发送该测试向量产生器所产生的一测试控制信号,或用于接收另一测试控制信号并传送至该测试向量产生器。
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