[发明专利]测试装置及其测试电路板

说明书

本发明公开了一种测试装置，包括至少一测试电路板，每一该测试电路板均具有独立运作能力，且每一该测试电路板包括：一缓冲存储器模块用于自一动态随机存取存储器读取并储存多个测试向量；一存储器接口控制器储存读取指令，以供该缓冲存储器模块读取该些测试向量；一测试向量产生器依据一测试微指令中的存储器位置自该缓冲存储器模块读取该多个测试向量之一，并以该读取的测试向量产生一测试信号；及一传输电路用于发送该测试向量产生器所产生的一测试控制信号，或接收另一测试控制信号并传送至该测试向量产生器。

技术领域

本发明是关于一种具有多个测试电路板的测试装置，特别是每一个测试电路板都具有缓冲存储器模块与测试向量产生器，以供个别独立运作并以该多个测试电路板共同完成所有测试项目的测试装置。

背景技术

现有测试装置的系统架构，通常藉由一个中央控制电路板来控制多个功能电路板。中央通道控制电路板藉由读取该电路板存储器内的测试微指令，依序产生并传送功能电路板的测试图案资料存储器位置至多个功能电路板。随后，每个功能电路板藉由读取该电路板存储器内的测试图案资料，使该电路板的多个通道波形产生器产生测试信号来对测试物进行测试。

于上述架构中，现有功能电路板测试装置产生测试信号的运作能力显然会受限于中央控制电路板的效能。详言之，由于中央控制电路板的效能需求必须考虑公用背板的传输线数量、传输线长度及传输速度等因素，故当测试物需要被测试的功能信号增加而需要对应增加更多的功能电路板时，不仅导致现有测试装置需要增加共用背板的插槽数量，更可能因为效能需求而必须更换效能更强大、运作速度更快的中央控制电路板。此外，虽然以单一中央控制电路板来控制所有功能电路板的架构思维较为简单，但会降低整体测试系统的效能。

发明内容

本发明在于提供一种测试装置，该测试装置具有至少一测试电路板，且每一个测试电路板具有独立运作能力，藉以解决现有测试装置的运作能力限制于中央控制器效能的问题。

本发明所公开的测试装置，包括至少一测试电路板，每一测试电路板均用于连接一动态随机存取存储器，以读取该动态随机存取存储器中的测试向量并产生测试信号，其中每一该测试电路板均具有独立运作能力，且每一该测试电路板包括一缓冲存储器模块、一存储器接口控制器、一测试向量产生器及一传输电路。该缓冲存储器模块用于电性连接至该动态随机存取存储器，并用于自该动态随机存取存储器读取并储存多个测试向量。该存储器接口控制器连接该缓冲存储器模块，且该存储器接口控制器至少储存读取指令，以供该缓冲存储器模块从该动态随机存取存储器读取该些测试向量。该测试向量产生器连接该缓冲存储器模块，且依据一测试微指令中的存储器位置自该缓冲存储器模块读取该多个测试向量之一，并以该读取的测试向量产生一测试信号。该传输电路连接该测试向量产生器，且该传输电路用于发送该测试向量产生器所产生的一测试控制信号，或用于接收另一测试控制信号并传送至该测试向量产生器。

根据上述本发明所公开的测试装置，藉由每一个测试电路板具有独立运作能力，且都具有缓冲存储器模块控制器及测试向量产生器，可实现依测试物的实际脚位机动性地改变测试装置的测试电路板的数量即能达成产生对应于上述实际脚位的测试信号。并且，当多个测试电路板群组化成一组测试电路时，由于该组测试电路中的每一个测试电路板都具有独立的工作能力，使得测试电路群组存取数据、排程能力、产生测试信号等工作效能亦可对应增加，有效解决现有测试装置的运作能力限制于中央控制器效能的问题。

以上关于本发明内容的说明及以下实施方式的说明用以示范与解释本发明的原理，并且提供本发明的权利要求保护范围更进一步的解释。

附图说明

图1为根据本发明一实施例所绘示的测试装置的示意图。

图2为根据本发明一实施例所绘示的测试电路板的功能方块图。

图3为根据本发明另一实施例所绘示的测试向量产生器的功能方块图。

其中，附图标记