[发明专利]测试装置及其测试电路板

权利要求书

1.一种测试装置，其特征在于，包括多个测试电路板，每一测试电路板均用于连接一动态随机存取存储器，以读取该动态随机存取存储器中的测试向量并产生测试信号，其中每一该测试电路板均具有独立运作能力，且每一该测试电路板包括：

一缓冲存储器模块，用于电性连接至该动态随机存取存储器，并用于自该动态随机存取存储器读取并储存多个测试向量；

一存储器接口控制器，连接该缓冲存储器模块，且该存储器接口控制器至少储存读取指令，以供该缓冲存储器模块从该动态随机存取存储器读取测试向量；

一测试向量产生器，连接该缓冲存储器模块，且依据一测试微指令中的存储器位置自该缓冲存储器模块读取该多个测试向量之一，并以该读取的测试向量产生一测试信号；以及

一传输电路，连接该测试向量产生器，且该传输电路用于发送该测试向量产生器所产生的一测试控制信号，或用于接收另一测试控制信号并传送至该测试向量产生器，

其中，该多个测试电路板之一为一主控板，该多个测试电路板的其余者为至少一伺服板，该主控板的传输电路发送一测试控制信号，该至少一伺服板的传输电路接收该测试控制信号，其中该测试控制信号作为该多个测试电路板的同步运作启动基准。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，该测试微指令预先写入于该测试向量产生器中，或者包含于该读取的测试向量中。

3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，该测试向量产生器包括一测试微指令处理模块及一测试图案资料处理模块，测试向量另包括一测试图案资料，该测试微指令处理模块执行该测试微指令以读取该缓冲存储器模块中的测试向量并控制该测试图案资料处理模块，该测试图案资料处理模块依据该测试微指令对该测试图案资料执行一算法，以产生该测试信号。

4.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，该缓冲存储器模块的读取资料宽度大于该测试向量产生器的读取资料宽度。

5.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，该测试向量产生器包括依序连接的一测试微指令处理模块、一先进先出存储器及一测试图案资料处理模块，测试向量另包括一测试图案资料，该测试微指令处理模块执行该测试微指令以读取该缓冲存储器模块中的测试向量并储存于该先进先出存储器，该先进先出存储器依序地将所储存的测试向量提供至该测试图案资料处理模块，该测试图案资料处理模块依据该测试微指令对该测试图案资料执行多种算法，以产生包括该测试信号的多个测试信号。

6.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于，该测试向量产生器进一步包括一解复用器，该解复用器连接该测试图案资料处理模块，且该解复用器依据该测试微指令的一演算选择信号，由该多个测试信号之中择一输出。