[发明专利]曝光机控制方法、曝光机控制系统及存储介质有效

专利信息
申请号: 201710875561.X 申请日: 2017-09-25
公开(公告)号: CN107422615B 公开(公告)日: 2019-08-06
发明(设计)人: 胡炳煌 申请(专利权)人: 武汉华星光电技术有限公司
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 郝传鑫;熊永强
地址: 430070 湖北省武汉市武*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明提供了一种曝光机控制方法,所述曝光机控制方法包括:当有待处理基板距离曝光机的基板入口预设距离时,发出监控信号以监控曝光机内的光罩是否需要更换;所述曝光机内的所述光罩需要更换时,判断所述曝光机内的所述光罩是否更换完成;当所述曝光机内的所述光罩更换完成时,则将所述待处理基板送进所述曝光机。本发明提供的控制方法具有提高曝光机生产效率的优点。本发明还提供了一种曝光机控制方法系统及一种存储介质。
搜索关键词: 曝光 控制 方法 控制系统 存储 介质
【主权项】:
1.一种曝光机控制方法,其特征在于,所述曝光机控制方法包括:当有待处理基板距离曝光机的基板入口预设距离时,发出监控信号以监控曝光机内的光罩是否需要更换;所述曝光机内的所述光罩需要更换时,判断所述曝光机内的所述光罩是否更换完成,其中,所述“判断所述曝光机内的所述光罩是否更换完成”包括:检测到光罩工作位上有重量变化时,认为此时正在进行光罩的更换动作,然后间隔预设时间之后,则认为所述曝光机内的所述光罩完成更换;当所述曝光机内的所述光罩更换完成时,则将所述待处理基板送进所述曝光机;判断所述曝光机中的更换后的所述光罩是否与所述待处理基板匹配;当所述曝光机中的更换后的所述光罩与所述待处理基板匹配时,对所述待处理基板进行曝光处理。
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