[发明专利]背散射模型生成方法、去除背散射伪影的方法及成像系统有效

专利信息
申请号: 201710855369.4 申请日: 2017-09-20
公开(公告)号: CN107822650B 公开(公告)日: 2020-10-13
发明(设计)人: 黄细平 申请(专利权)人: 奕瑞影像科技(太仓)有限公司
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 余明伟
地址: 215434 江苏省苏州市太*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供一种背散射模型生成方法、去除背散射伪影的方法及成像系统,所述背散射模型生成方法包括:预设拍摄参数,并在不同X射线产生电压下,采用第一平板探测器分别对待成像物体进行拍摄成像并处理,得到第一校正图像组;预设同步骤S1相同的拍摄参数,并在同步骤S1相同的X射线产生电压下,采用第二平板探测器分别对待成像物体进行拍摄成像并处理,得到第二校正图像组;根据公式得到每一X射线产生电压所对应的背散射分布,从而得到由多个背散射分布组成的背散射模型。通过本发明所述背散射模型生成方法、去除背散射伪影的方法及成像系统,解决了现有可去除背散射伪影的平板探测器的制造成本高、重量大、不利于实现便携性的问题。
搜索关键词: 散射 模型 生成 方法 去除 成像 系统
【主权项】:
一种背散射模型生成方法,其特征在于,所述生成方法包括:步骤S1:预设拍摄参数,并在不同X射线产生电压下,采用第一平板探测器分别对待成像物体进行拍摄成像并处理,得到第一校正图像组,其中,所述第一校正图像组包括与不同X射线产生电压对应的多个带有背散射伪影的第一校正图像;步骤S2:预设同步骤S1相同的拍摄参数,并在同步骤S1相同的X射线产生电压下,采用第二平板探测器分别对待成像物体进行拍摄成像并处理,得到第二校正图像组,其中,所述第二校正图像组包括与不同X射线产生电压对应的多个未带背散射伪影的第二校正图像;步骤S3:根据公式得到每一X射线产生电压所对应的背散射分布,从而得到由多个背散射分布组成的背散射模型;其中,Psn为一X射线产生电压所对应的背散射分布,P1n为第一校正图像组中,与该X射线产生电压对应的带有背散射伪影的第一校正图像,P2n为第二校正图像组中,与该X射线产生电压对应的未带背散射伪影的第二校正图像。
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