[发明专利]背散射模型生成方法、去除背散射伪影的方法及成像系统

说明书

本发明提供一种背散射模型生成方法、去除背散射伪影的方法及成像系统，所述背散射模型生成方法包括：预设拍摄参数，并在不同X射线产生电压下，采用第一平板探测器分别对待成像物体进行拍摄成像并处理，得到第一校正图像组；预设同步骤S1相同的拍摄参数，并在同步骤S1相同的X射线产生电压下，采用第二平板探测器分别对待成像物体进行拍摄成像并处理，得到第二校正图像组；根据公式得到每一X射线产生电压所对应的背散射分布，从而得到由多个背散射分布组成的背散射模型。通过本发明所述背散射模型生成方法、去除背散射伪影的方法及成像系统，解决了现有可去除背散射伪影的平板探测器的制造成本高、重量大、不利于实现便携性的问题。

技术领域

本发明属于X射线平板探测器领域，特别是涉及一种背散射模型生成方法、去除背散射伪影的方法及成像系统。

背景技术

平板探测器是一种用于放射成像的影像设备，其结构组成由闪烁体、TFT感光面板、PCBA(信号读取及传输电路)和机械结构组成，在临床上主要应用于放射诊断成像。平板探测器的成像原理如下：X射线透过被检物体后入射到探测器表面，闪烁体将X射线转换为可见光，TFT感光面板吸收可见光并转换为光电荷，并通过TFT开关阵列及积分运放电路将光电荷转换为电平信号，由AD电路转换为数字信号并传输至上位机，实现数字图像显示。

由于闪烁体对X射线不能完全吸收，以400um厚的CsI为例，在70kV X射线的能谱辐射下，闪烁体对X射线的吸收率约为85％，随着X射线能量的提高，其对X射线的吸收率将不断下降。因此，始终会存在部分X射线没有被闪烁体吸收，该部分X射线透过闪烁体后直接穿透平板探测器的TFT感光面板、PCBA及机械结构件，在该过程中，X射线会吸收，也会发生散射，当散射角度大于90度时成为背散射，背散射线被闪烁体吸收后又重新转换为信号并叠加在当前图像上，形成伪影，由此形成背散射伪影。

现有技术如专利公开号为US20140042331A1的美国专利，是通过在TFT感光面板与PCBA之间增加一层均匀平整的铅橡胶，来防止背散射，从而实现去除图像的背散射伪影；但在平板探测器中增加一层铅橡胶，不仅增加了平板探测器的制造成本，而且还增加了平板探测器的重量，限制了平板探测器的便携性。

鉴于此，有必要设计一种新的背散射模型生成方法、去除背散射伪影的方法及成像系统用以解决上述技术问题。

发明内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种背散射模型生成方法、去除背散射伪影的方法及成像系统，用于解决现有可去除背散射伪影的平板探测器的制造成本高、重量大、不利于实现便携性的问题。

为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种背散射模型生成方法，所述生成方法包括：

步骤S1：预设拍摄参数，并在不同X射线产生电压下，采用第一平板探测器分别对待成像物体进行拍摄成像并处理，得到第一校正图像组，其中，所述第一校正图像组包括与不同X射线产生电压对应的多个带有背散射伪影的第一校正图像；

步骤S2：预设同步骤S1相同的拍摄参数，并在同步骤S1相同的X射线产生电压下，采用第二平板探测器分别对待成像物体进行拍摄成像并处理，得到第二校正图像组，其中，所述第二校正图像组包括与不同X射线产生电压对应的多个未带背散射伪影的第二校正图像；

步骤S3：根据公式得到每一X射线产生电压所对应的背散射分布，从而得到由多个背散射分布组成的背散射模型；其中，Psn为一X射线产生电压所对应的背散射分布，P1n为第一校正图像组中，与该X射线产生电压对应的带有背散射伪影的第一校正图像，P2n为第二校正图像组中，与该X射线产生电压对应的未带背散射伪影的第二校正图像。

优选地，得到所述第一校正图像组的方法包括：

步骤S11：在没有X射线辐射时，第一平板探测器进行采集图像，得到第一暗场图像；