[发明专利]一种显示装置的亮度缺陷检测方法与装置有效
| 申请号： | 201710846527.X | 申请日： | 2017-09-18 |
| 公开（公告）号： | CN107657606B | 公开（公告）日： | 2020-05-05 |
| 发明（设计）人： | 史超超 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/13;G06T7/136;G06T7/187;G06T7/194 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人： | 钟子敏 |
| 地址： | 518000 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种显示装置的亮度缺陷检测方法与装置。该方法包括如下步骤：输入第一图像；检测第一图像的点状缺陷，并对点状缺陷进行补偿以得到第二图像；检测第二图像的线状缺陷，并对线状缺陷进行补偿以得到第三图像；检测第三图像的块状缺陷；将第一图像的点状缺陷、第二图像的线状缺陷以及第三图像的块状缺陷整合，以得到亮度缺陷检测结果。本发明公开了一种显示装置的亮度缺陷检测方法与装置，通过检测点状缺陷与线状缺陷，使用缺陷临近像素值填充缺陷，减少点状缺陷与线状缺陷对块状缺陷检测的影响，提高了块状缺陷检测的准确性，同时还提高了检测的多样性与准确性，克服了单一类型的亮度缺陷检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 显示装置 亮度 缺陷 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种显示装置的亮度缺陷检测方法，其特征在于，包括：输入第一图像；检测所述第一图像的点状缺陷，并对所述点状缺陷进行补偿以得到第二图像；检测所述第二图像的线状缺陷，并对所述线状缺陷进行补偿以得到第三图像；检测所述第三图像的块状缺陷；将所述第一图像的点状缺陷、所述第二图像的线状缺陷以及所述第三图像的块状缺陷整合，以得到亮度缺陷检测结果。
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