[发明专利]一种显示装置的亮度缺陷检测方法与装置

说明书

本发明公开了一种显示装置的亮度缺陷检测方法与装置。该方法包括如下步骤：输入第一图像；检测第一图像的点状缺陷，并对点状缺陷进行补偿以得到第二图像；检测第二图像的线状缺陷，并对线状缺陷进行补偿以得到第三图像；检测第三图像的块状缺陷；将第一图像的点状缺陷、第二图像的线状缺陷以及第三图像的块状缺陷整合，以得到亮度缺陷检测结果。本发明公开了一种显示装置的亮度缺陷检测方法与装置，通过检测点状缺陷与线状缺陷，使用缺陷临近像素值填充缺陷，减少点状缺陷与线状缺陷对块状缺陷检测的影响，提高了块状缺陷检测的准确性，同时还提高了检测的多样性与准确性，克服了单一类型的亮度缺陷检测。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，特别是涉及一种显示装置的亮度缺陷检 测方法与装置。

背景技术

亮度缺陷是薄膜晶体管-液晶显示器(TFT-LCD)上一种典型的低对 比度缺陷，一般表现为可被人眼感知，没有固定形状，对比度低、尺寸 通常大于单个像素、形状各异、无明显边缘、图像背景复杂，因此被列 为显示器缺陷中最难检测的缺陷之一。亮度缺陷呈现形式可以分为3种： 点状缺陷、线状缺陷和其他不规则的块状缺陷。

目前国内LCD制造业中对于亮度缺陷的检测大多数都停留在人工 检测阶段，这种方法检测时间长，高成本，主观性强，稳定性不高，严 重制约生产线生产效率。因此，快速、稳定且符合人眼视觉特性的自动 低对比度缺陷检测、分级方法重要性不言而喻。

发明内容

本发明主要解决的问题是提供了一种显示装置的亮度缺陷检测方 法与装置，通过对点状缺陷和线状缺陷进行填充，能够改善块状缺陷的 准确性，系统克服单一类型亮度缺陷检测。

解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是提供一种显示装 置的亮度缺陷检测方法，该方法包括：输入第一图像；检测所述第一图 像的点状缺陷，并对所述点状缺陷进行补偿以得到第二图像；检测所述 第二图像的线状缺陷，并对所述线状缺陷进行补偿以得到第三图像；检 测所述第三图像的块状缺陷；将所述第一图像的点状缺陷、所述第二图 像的线状缺陷以及所述第三图像的块状缺陷整合，以得到亮度缺陷检测 结果。

解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是提供一种显示装 置的亮度缺陷检测装置，包括输入输出装置、存储器以及处理器。其中， 所述存储器用于存储计算机程序，所述计算机程序在被所述处理器执行 时，用于实现上述的方法。

通过上述方案，本发明的有益效果是：提供一种显示装置的亮度缺 陷检测方法，该方法包括：输入第一图像；检测所述第一图像的点状缺 陷，并对所述点状缺陷进行补偿以得到第二图像；检测所述第二图像的 线状缺陷，并对所述线状缺陷进行补偿以得到第三图像；检测所述第三 图像的块状缺陷；将所述第一图像的点状缺陷、所述第二图像的线状缺 陷以及所述第三图像的块状缺陷整合，以得到亮度缺陷检测结果。通过 上述方式，能够检测点状缺陷与线状缺陷，使用缺陷临近像素值填充缺 陷，减少点状缺陷与线状缺陷对块状缺陷检测的影响，提高了块状缺陷 检测的准确性，同时还提高了检测的多样性与准确性，克服了单一类型 的亮度缺陷检测。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描 述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图 仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出 创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。其中：

图1是本发明提供的显示装置的亮度缺陷检测方法一实施例流程示 意图；

图2是本发明提供的显示装置的亮度缺陷检测方法一实施例中第一 图像和第二图像的示意图；

图3是本发明提供的显示装置的亮度缺陷检测方法另一实施例的流 程示意图；

图4是本发明提供的显示装置的亮度缺陷检测方法另一实施例的滤 波模板示意图；