[发明专利]一种显示装置的亮度缺陷检测方法与装置有效
申请号: | 201710846527.X | 申请日: | 2017-09-18 |
公开(公告)号: | CN107657606B | 公开(公告)日: | 2020-05-05 |
发明(设计)人: | 史超超 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/13;G06T7/136;G06T7/187;G06T7/194 |
代理公司: | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人: | 钟子敏 |
地址: | 518000 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 显示装置 亮度 缺陷 检测 方法 装置 | ||
1.一种显示装置的亮度缺陷检测方法,其特征在于,包括:
输入第一图像;
检测所述第一图像的点状缺陷,并对所述点状缺陷进行补偿以得到第二图像;
检测所述第二图像的线状缺陷,并对所述线状缺陷进行补偿以得到第三图像;
获取所述第三图像的灰度直方图;其中,所述灰度直方图的横坐标为像素的数量,纵坐标为像素值;
从所述灰度直方图中获取像素值大于设定阈值的像素的数量的最大值和最小值;
计算所述最大值和所述最小值的差值作为K值;其中,K为正整数;
将所述第三图像划分为K个区域;
将所述第三图像的每个像素进行聚类,以归类到所述K个区域中的一个;
将所述K个区域进行聚类,以将灰阶值相似度超过设定阈值的不同区域进行合并,从而得到所述第三图像的块状缺陷;
将所述第一图像的点状缺陷、所述第二图像的线状缺陷以及所述第三图像的块状缺陷整合,以得到亮度缺陷检测结果。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,
所述检测所述第一图像的点状缺陷,并对所述点状缺陷进行补偿以得到第二图像的步骤,包括:
对所述第一图像进行滤波处理,对所述第一图像进行补偿以得到补偿后的第二图像;
将所述第一图像每个像素的灰阶值和所述第二图像对应像素的灰阶值进行作差处理,以得到所述第一图像的点状缺陷。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,
所述对所述第一图像进行滤波处理,对所述第一图像进行补偿以得到补偿后的第二图像的步骤,包括:
采用以下滤波函数对所述第一图像进行滤波处理,以得到所述第二图像:
其中,I(i,j)为所述第一图像的像素坐标函数,If(i,j)为所述第一图像滤波后的函数,即第二图像的函数,2s+1位模板宽度,其中,s为正整数。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,
所述检测所述第二图像的线状缺陷的步骤,包括:
采用边缘检测算法对所述第二图像进行处理,以得到所述第二图像的线状缺陷;
其中,所述边缘检测算法包括Sobel算法、Roberts算法、Prewitt算法、Laplacian算法、Log算法或Canny算法中的至少一种。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,
所述将所述第三图像的每个像素进行聚类,以归类到所述K个区域中的一个的步骤,包括:
定义所述K个区域中每个区域的中心;
计算每个像素到每个区域的中心的距离以及灰阶值差值;
将每个像素归类到距离最近且/或灰阶值差值最小的区域。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,
所述方法还包括:
根据每个像素的聚类结果,重新定义所述K个区域中每个区域的中心;
重复执行所述计算每个像素到每个区域的中心的距离以及灰阶值差值的步骤,以及所述将每个像素归类到距离最近且/或灰阶值差值最小的区域的步骤,直到所述K个区域中每个区域的中心不变。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,
所述将所述K个区域进行聚类,以将灰阶值相似度超过设定阈值的不同区域进行合并,从而得到所述第三图像的块状缺陷的步骤,包括:
获取所述K个区域中每个区域的图像的灰度直方图;
将图像的灰度直方图中的缺陷的重合度大于设定值的两个区域进行合并。
8.一种显示装置的亮度缺陷检测装置,其特征在于,包括输入输出装置、存储器以及处理器;
其中,所述存储器用于存储计算机程序,所述计算机程序在被所述处理器执行时,用于实现如权利要求1-7任一项所述的方法。
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