[发明专利]电热膜的阻值的测量装置和测量方法在审
| 申请号： | 201710826737.2 | 申请日： | 2017-09-14 |
| 公开（公告）号： | CN107449969A | 公开（公告）日： | 2017-12-08 |
| 发明（设计）人： | 胡泽平;谭化兵;刘海滨 | 申请（专利权）人： | 无锡格菲电子薄膜科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02 |
| 代理公司： | 北京世衡知识产权代理事务所(普通合伙)11686 | 代理人： | 肖淑芳,郝文博 |
| 地址： | 214000 江苏省无锡市惠山经*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供一种用于测量多个电热膜的阻值的装置，其中所述多个电热膜包括在电热膜片中，所述装置包括测量平台，所述电热膜片可定位在所述测量平台上；测量探头，所述测量探头可测量所述电热膜的阻值；致动机构，所述致动机构与所述测量探头连接，以将所述测量探头在所述多个电热膜上方移动；控制机构，所述控制机构与所述致动机构耦合，以通过所述致动机构控制所述测量探头在所述多个电热膜上方移动并定位在其中一个电热膜上方，所述控制机构并且与所述测量探头耦合，以采集所述测量探头测量的阻值；其中当所述测量探头测量的阻值异常时，对发生异常的电热膜做出标识。 | ||
| 搜索关键词： | 电热 阻值 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
一种用于测量多个电热膜的参数的装置，其中所述多个电热膜包括在电热膜片中，所述装置包括：测量平台，所述电热膜片可定位在所述测量平台上；测量探头，所述测量探头可测量所述电热膜的所述参数；致动机构，所述致动机构与所述测量探头连接，以将所述测量探头在所述多个电热膜上方移动；控制机构，所述控制机构与所述致动机构耦合，以通过所述致动机构控制所述测量探头在所述多个电热膜上方移动并定位在其中一个电热膜上方，所述控制机构并且与所述测量探头耦合，以采集所述测量探头测量的参数；其中当所述测量探头测量的参数异常时，对发生异常的电热膜做出标识。
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