[发明专利]电热膜的阻值的测量装置和测量方法

权利要求书

1.一种用于测量多个电热膜的参数的装置，其中所述多个电热膜包括在电热膜片中，所述装置包括：

测量平台，所述电热膜片可定位在所述测量平台上；

测量探头，所述测量探头可测量所述电热膜的所述参数；

致动机构，所述致动机构与所述测量探头连接，以将所述测量探头在所述多个电热膜上方移动；

控制机构，所述控制机构与所述致动机构耦合，以通过所述致动机构控制所述测量探头在所述多个电热膜上方移动并定位在其中一个电热膜上方，所述控制机构并且与所述测量探头耦合，以采集所述测量探头测量的参数；其中当所述测量探头测量的参数异常时，对发生异常的电热膜做出标识。

2.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述致动机构包括X轴致动器、Y轴致动器和Z轴致动器，其中所述X轴致动器和Y轴致动器配置成驱动所述测量探头平行于所述测量平台移动，所述Z轴致动器配置成驱动所述测量探头垂直于所述测量平台移动。

3.如权利要求2所述的装置，其特征在于，所述X轴致动器包括X轴步进电机和与所述X轴步进电机耦合的X轴丝杠，所述X轴步进电机与所述控制机构耦合，并由所述控制机构控制，X轴丝杠与所述测量探头耦合，当所述X轴丝杠被所述X轴步进电机驱动时，所述X轴丝杠驱动所述测量探头沿X轴移动。

4.如权利要求2或3所述的装置，其特征在于，所述Y轴致动器包括Y轴步进电机和Y轴丝杠，所述Y轴步进电机与所述控制机构耦合，并由所述控制机构控制，Y轴丝杠与所述测量探头耦合，当所述Y轴丝杠被所述Y轴步进电机驱动时，所述Y轴丝杠驱动所述测量探头沿Y轴移动。

5.如权利要求2或3所述的装置，其特征在于，所述Z轴致动器包括Z轴气动装置，所述Z轴气动装置与所述控制机构耦合并且与所述测量探头耦合，控制所述测量探头沿Z轴移动。

6.如权利要求1-5中任一项所述的装置，其特征在于，还包括标识装置，所述标识装置安装在所述测量探头附近并且与所述控制机构耦合，从而当所述测量探头测量的阻值异常时，对发生异常的电热膜做出标识。

7.如权利要求6所述的装置，其特征在于，所述标识装置包括标识气缸和标识笔，当所述测量探头测量的阻值异常时，所述控制装置通过所述表示气缸控制所述标识笔在发生异常的电热膜上做出标识。

8.如权利要求1-7中任一项所述的装置，其特征在于，所述控制装置包括运行有LABVIEW的计算机。

9.如权利要求1-8中任一项所述的装置，其特征在于，所述控制装置包括PLC和输入装置，所述输入装置与所述PLC耦合，配置成可设置所述测量探头的位置和/或速度和/或起点位置。

10.如权利要求1-9中任一项所述的装置，其特征在于，所述装置用于测量所述电热膜的电阻值。

11.如权利要求1-10中任一项所述的装置，其特征在于，所述测量探头在接触所述电热膜后0.85s-2s的时刻测量所述参数，优选地为1s的时刻。

12.如权利要求1-10中任一项所述的装置，其特征在于，将所述测量探头与所述电热膜接触过程中最小的测量数据作为所述参数的测量值。

13.一种用于测量多个电热膜的参数的方法，其中所述多个电热膜包括在电热膜片中，所述方法包括：

定位所述电热膜片；

将测量探头定位在所述电热膜片上的第一电热膜上方，并测量所述第一电热膜的所述参数；和

依次移动所述测量探头至所述电热膜片上的其他电热膜上方，测量其他电热膜的所述参数；

其中，当所述测量探头测量到电热膜的所述参数异常时，将所述参数异常的电热膜标识出。