[发明专利]天线测试装置、智能卡以及芯片在审
| 申请号： | 201710754086.0 | 申请日： | 2017-08-29 |
| 公开（公告）号： | CN107478916A | 公开（公告）日： | 2017-12-15 |
| 发明（设计）人： | 白光宇;何险峰 | 申请（专利权）人： | 恒宝股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 212355 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种天线测试装置、智能卡以及芯片，涉及智能卡技术领域，解决了相关技术中对智能卡进行终端兼容性测试效率较低的问题。本申请的天线测试装置包括智能卡主体，该智能卡主体上设置有卡槽，该卡槽内设置有第一触点，第一触点的第一端与设置于智能卡主体内的射频天线连接，第一触点的第二端用于在可拆卸芯片装入卡槽的情况下，与可拆卸芯片连接。本申请提高了对智能卡进行终端兼容性测试的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 天线 测试 装置 智能卡 以及 芯片 | ||
【主权项】：
一种天线测试装置，其特征在于，包括：智能卡主体，所述智能卡主体上设置有卡槽，所述卡槽内设置有第一触点，所述第一触点的第一端与设置于所述智能卡主体内的射频天线连接，所述第一触点的第二端用于在可拆卸芯片装入所述卡槽的情况下，与所述可拆卸芯片连接。
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