[发明专利]闪存芯片的修调测试方法及修调测试装置有效
| 申请号： | 201710724827.0 | 申请日： | 2017-08-22 |
| 公开（公告）号： | CN107481765B | 公开（公告）日： | 2023-07-28 |
| 发明（设计）人： | 马亮;李迪;刁静;刘大海;安友伟;李建球 | 申请（专利权）人： | 珠海博雅科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 | 代理人： | 蔡纯;张靖琳 |
| 地址： | 519080 广东省珠海市唐家湾镇大学路*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种闪存芯片的修调测试方法和装置。该仿真方法包括：产生第一批修调值序列和重置第二批修调值序列；将每一个修调值序列分别写入待测试的芯片，对待测芯片进行相关的读写擦等操作并记录对应的修调测试结果；将修调测试结果加权评分并保留最优修调值序列；判断是否达到结束条件。在选取合适修调值的过程中，自动优化了修调值，克服了现有技术中需要花费大量时间及精力的问题，并且修调后的芯片参数更符合目标值。 | ||
| 搜索关键词： | 闪存 芯片 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种闪存芯片的修调测试装置，包括：配置模块，产生第一批修调值序列和重置第二批修调值序列；测试模块，将每一个修调值序列分别写入待测试的芯片，对待测芯片进行相关的读写擦等操作并记录对应的修调测试结果；计算模块，用于将修调测试结果加权评分并保留最优修调值序列；以及比较模块，用于判断是否达到结束条件。
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