[发明专利]闪存芯片的修调测试方法及修调测试装置

权利要求书

1.一种闪存芯片的修调测试装置，包括：

配置模块，产生第一批修调值序列和重置第二批修调值序列；

测试模块，在第一组测试将所述第一批修调值序列的每一个修调值序列分别写入待测的芯片或在第二组测试将所述第二批修调值序列的每一个修调值序列分别写入待测试的芯片，对待测芯片进行相关的读写擦操作并记录分别与所述第一批修调值序列和所述第二批修调值序列对应的第一修调测试结果和第二修调测试结果；

计算模块，用于将所述第一修调测试结果加权评分并按照评分高低保留所述第一批修调值序列的第一最优修调值序列或将所述第二修调测试结果加权评分并按照评分高低保留所述第二批修调值序列的第二最优修调值序列；以及

比较模块，用于判断在所述第二最优修调值序列作用下所述芯片性能是否达到结束条件，

其中，所述第二批修调值序列包括所述第一最优修调值序列以及将除所述第一最优修调值序列之外的其余第一批修调值序列重置获得的新的修调值序列。

2.根据权利要求1所述的修调测试装置，其中，所述比较模块的所述结束条件指待测芯片的测试参数达到预定效果。

3.根据权利要求1所述的修调测试装置，其中，所述计算模块的加权评分为针对衡量多个指标时对不同指标设置不同的权重，所述权重固定或可调节。

4.根据权利要求1所述的修调测试装置，其中，所述第一批修调值序列是随机产生的多个不同的修调值序列。

5.根据权利要求1所述的修调测试装置，其中，所述将除所述第一最优修调值序列之外的其余第一批修调值序列重置包括对除所述第一最优修调值序列之外的其余第一批修调值序列内部的交叉处理和变异处理。

6.一种闪存芯片的修调测试方法，包括：

产生第一批修调值序列；

将所述第一批修调值序列的每一个修调值序列分别写入待测试的芯片，对待测芯片进行相关的读写擦操作并记录对应的第一修调测试结果；

将所述第一修调测试结果加权评分并按照评分高低保留所述第一批修调值序列的第一最优修调值序列；

重置第二批修调值序列；

将所述第二批修调值序列的每一个修调值序列分别写入待测试的芯片，对待测芯片进行相关的读写擦操作并记录对应的第二修调测试结果；

将所述第二修调测试结果加权评分并按照评分高低保留所述第二批修调值序列的第二最优修调值序列；以及

判断在所述第二最优修调值序列作用下所述芯片性能是否达到结束条件；

其中，所述第二批修调值序列包括所述第一最优修调值序列以及将除所述第一最优修调值序列之外的其余第一批修调值序列重置获得的新的修调值序列。

7.根据权利要求6所述的修调测试方法，其中，所述结束条件指待测芯片的测试参数达到预定效果。

8.根据权利要求6所述的修调测试方法，其中，所述加权评分为针对衡量多个指标时对不同指标设置不同的权重，所述权重固定或可调节。

9.根据权利要求6所述的修调测试方法，其中，所述第一批修调值序列是随机产生的多个不同的修调值序列。

10.根据权利要求6所述的修调测试方法，其中，所述将除所述第一最优修调值序列之外的其余第一批修调值序列重置包括对除所述第一最优修调值序列之外的其余第一批修调值序列内部的交叉处理和变异处理。