[发明专利]半导体封装的形成方法有效
申请号: | 201710718317.2 | 申请日: | 2017-08-21 |
公开(公告)号: | CN108231702B | 公开(公告)日: | 2022-08-23 |
发明(设计)人: | 韩英信;林彦妙;陈中志;孟宪樑 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/31 | 分类号: | H01L23/31;H01L23/29;H01L23/13 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 徐金国 |
地址: | 中国台湾新竹市*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 一种半导体封装,包含一基材、一集成电路晶粒、一盖体以及一粘着剂。此集成电路晶粒是设置于基材上方。此盖体是设置于此基材上方。此盖体包含一覆盖部与一足部,此足部是从此覆盖部的一底面延伸。此覆盖部与此足部定义一凹陷,且此集成电路晶粒是收容于此凹陷中。此粘着剂包含一侧壁部与一底部,此侧壁部接触此足部的一侧壁。此底部从此侧壁部延伸至此足部的一底面与此基材之间。 | ||
搜索关键词: | 半导体 封装 形成 方法 | ||
【主权项】:
1.一半导体封装,其特征在于,包含:一基材;一集成电路晶粒,位于该基材上方;一盖体,位于该基材上方,其中该盖体包含一覆盖部与一足部,该足部从该覆盖部的一底面延伸,其中该覆盖部与该足部定义一凹陷,且该集成电路晶粒是收容于该凹陷中;以及一粘着剂,包含一侧壁部与一底部,其中该侧壁部接触该足部的一侧壁,且其中该底部从该侧壁部延伸至该足部的一底面与该基材之间。
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