[发明专利]一种PMON下基于龙芯64位处理器的内存测试方法

摘要

本发明提供了一种PMON下基于龙芯64位处理器的内存测试方法。本发明的方法，使用汇编语言编写，随着PMON启动自动开始进行全覆盖测试，测试最先通过不同模式的数据读写某固定地址测试数据线，接着通过在所有有效地址写入地址值再回读所有地址测试地址线，然后以内存内部BANK为单位连续写入多种不同模式的数据再回读对比进行普通访存测试，最后对地址空间分组，选定组内偏移，对偏移位置和其他位置写入固定的原码和反码这种跳跃、连续混合形式的读写进行压力更高的特殊访存测试。由此在龙芯64位处理器平台上实现物理内存全覆盖、启动自测、提供较高测试压力的内存测试目的，进而能加速硬件系统研发阶段的快速测试工作，并同时可初步对内存稳定性提供证明。

主权项

1.一种PMON下基于龙芯64位处理器的内存测试方法，其特征在于包括这些步骤：1）采用汇编语言编写测试代码；2）将测试代码入口嵌入到PMON启动的数据段和代码段拷贝逻辑之前，进行启动自测，同时要避免程序本身对内存空间的部分占用，也不影响后续启动动作；3）进行数据线测试，选定某个内存物理地址，反复读写相同宽度、不同模式的数据并比对；4）进行地址线测试，将所有有效内存物理地址写入地址值，确保所有地址保存的值不同，再读取所有地址的值与地址值比对；5）进行内存块连续读写测试，对所有有效内存物理地址以内存颗粒内部BANK为单位进行连续写多种模式的固定数据，再进行连续回读和比对；6）进行内存块特殊访存测试，对所有有效内存物理地址进行分组，对每个组相同偏移的地址进行写入相同原码值，再将反码写入剩下所有地址，回读每个组的原码值部分进行比对。