[发明专利]一种PMON下基于龙芯64位处理器的内存测试方法

说明书

本发明提供了一种PMON下基于龙芯64位处理器的内存测试方法。本发明的方法，使用汇编语言编写，随着PMON启动自动开始进行全覆盖测试，测试最先通过不同模式的数据读写某固定地址测试数据线，接着通过在所有有效地址写入地址值再回读所有地址测试地址线，然后以内存内部BANK为单位连续写入多种不同模式的数据再回读对比进行普通访存测试，最后对地址空间分组，选定组内偏移，对偏移位置和其他位置写入固定的原码和反码这种跳跃、连续混合形式的读写进行压力更高的特殊访存测试。由此在龙芯64位处理器平台上实现物理内存全覆盖、启动自测、提供较高测试压力的内存测试目的，进而能加速硬件系统研发阶段的快速测试工作，并同时可初步对内存稳定性提供证明。

技术领域

本发明涉及内存测试技术领域，特别是指一种PMON下基于龙芯64位处理器的内存测试方法。

背景技术

随着国家对信息安全、芯片自主可控的重视程度不断提高，国产处理器正处于高速发展的阶段，并被使用在越来越广泛的情形中。龙芯系列处理器作为国产处理器中的一个重要组成成员，在市场占有率方面有相当一部分比重，属于使用范围比较广、使用率比较高的国产处理器。其中，龙芯64位处理器可用于对处理性能有一定要求的场景，通常配备较大容量的内存，运行规模较大的操作系统。内存作为运行程序的关键载体，其可用性、稳定性是要通过一定的测试方法来长期测试予以保证。

对于内存测试，特别是DDR内存的测试，目前一些针对不同重点的测试项目，比如地址线测试、数据线测试，已经有比较成熟的理论和通用可行的测试方案。在其它处理器平台上，比如ARM、x86，都有成熟的、易于使用的内存测试方案或软件产品可以让用户很轻松的完成内存测试。

目前龙芯处理器平台使用的PMON和Linux也已经有内存测试程序，比如PMON中的newmt(C语言编写)和Test_Mem(汇编编写)，Linux系统下中的stressapptest，但是这些内存测试程序的方法实现不尽相同，其中newmt和stressapptest提供的测试方法相对完整，但需要较高的人工参与度，不能嵌入到启动流程中做自测试，不利于硬件系统研发过程中的快速自动测试。而Test_Mem虽然可以加入启动流程进行自动测试，但是测试项目少、方法过于简单，不能达到检测内存稳定性的目的。并且在龙芯64位处理器的平台上，整个PMON程序是按照32位设计和编译的，而Linux虽使用64位的内核却挂接32位的用户空间，由于MIPS架构默认的虚拟地址映射以及应用二进制接口（ABI）的局限性，C语言编写的程序无法覆盖全部物理内存测试。同时由于PMON或Linux自身运行要占用一部分内存，这部分内存也不能被测试使用。

综上所述，龙芯处理器平台的已有测试程序无法覆盖所有的DDR内存空间。如何在龙芯64位处理器平台上同时实现全覆盖、启动自测、压力测试这些特性的内存测试方法则是现有技术条件下有待解决的问题。

发明内容

本发明的目的是针对上述龙芯处理器平台现有内存测试技术存在的问题提供一种PMON下基于龙芯64位处理器的内存测试方法，以达到物理内存全覆盖、启动自测、提供较高测试压力的目的。

为实现本发明所述目的，本发明提供一种PMON下基于龙芯64位处理器的内存测试方法，步骤如下：

1) 采用汇编语言编写测试代码；

2) 将测试代码入口嵌入到PMON启动的数据段和代码段拷贝逻辑之前，进行启动自测，同时要避免程序本身对内存空间的部分占用，也不影响后续启动动作；

3) 进行数据线测试，选定某个内存物理地址，反复读写相同宽度、不同模式的数据并比对；

4) 进行地址线测试，将所有有效内存物理地址写入地址值，确保所有地址保存的值不同，再读取所有地址的值与地址值比对；

5) 进行内存块连续读写测试，对所有有效内存物理地址以内存颗粒内部BANK为单位进行连续写多种模式的固定数据，再进行连续回读和比对；