[发明专利]一种PMON下基于龙芯64位处理器的内存测试方法在审
| 申请号： | 201710700979.7 | 申请日： | 2017-08-16 |
| 公开（公告）号： | CN109408301A | 公开（公告）日： | 2019-03-01 |
| 发明（设计）人： | 吴昌昊;龚俊;李泽银 | 申请（专利权）人： | 中国兵器装备集团自动化研究所 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 中国工程物理研究院专利中心 51210 | 代理人： | 翟长明;韩志英 |
| 地址： | 621000 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 内存测试 龙芯 测试 全覆盖 回读 写入 测试地址 测试数据 测试压力 地址空间 固定地址 汇编语言 加速硬件 快速测试 连续混合 偏移位置 数据读写 物理内存 系统研发 写入地址 有效地址 自动开始 固定的 偏移 读写 反码 原码 自测 跳跃 分组 | ||
1.一种PMON下基于龙芯64位处理器的内存测试方法，其特征在于包括这些步骤：
1）采用汇编语言编写测试代码；
2）将测试代码入口嵌入到PMON启动的数据段和代码段拷贝逻辑之前，进行启动自测，同时要避免程序本身对内存空间的部分占用，也不影响后续启动动作；
3）进行数据线测试，选定某个内存物理地址，反复读写相同宽度、不同模式的数据并比对；
4）进行地址线测试，将所有有效内存物理地址写入地址值，确保所有地址保存的值不同，再读取所有地址的值与地址值比对；
5）进行内存块连续读写测试，对所有有效内存物理地址以内存颗粒内部BANK为单位进行连续写多种模式的固定数据，再进行连续回读和比对；
6）进行内存块特殊访存测试，对所有有效内存物理地址进行分组，对每个组相同偏移的地址进行写入相同原码值，再将反码写入剩下所有地址，回读每个组的原码值部分进行比对。
2.根据权利要求1所述的一种PMON下基于龙芯64位处理器的内存测试方法，其特征在于：所述的汇编语言采用MIPS64指令集。
3.根据权利要求1所述的一种PMON下基于龙芯64位处理器的内存测试方法，其特征在于：所述的PMON的版本为龙芯64位处理器配套使用的版本。
4.根据权利要求1所述的一种PMON下基于龙芯64位处理器的内存测试方法，其特征在于：所述的内存为DDR2、DDR3中的一种。
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