[发明专利]提高内量子效率的LED外延生长方法有效
申请号: | 201710681967.4 | 申请日: | 2017-08-10 |
公开(公告)号: | CN107507891B | 公开(公告)日: | 2019-02-15 |
发明(设计)人: | 徐平 | 申请(专利权)人: | 湘能华磊光电股份有限公司 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L33/04;H01L33/14;H01L33/32 |
代理公司: | 北京晟睿智杰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11603 | 代理人: | 于淼 |
地址: | 423038 湖南省郴*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | 本申请公开了一种提高内量子效率的LED外延生长方法,依次包括:处理衬底、生长低温缓冲层GaN、生长不掺杂GaN层、生长掺杂Si的N型GaN层、生长AlGaN:Zn薄垒层、交替生长InxGa(1‑x)N/GaN发光层、生长P型AlGaN层、生长掺杂Mg的P型GaN层,降温冷却,通过发光层靠近N型层的一侧生长AlGaN:Zn薄垒层,形成不对称阱垒结构,抑制电子漏电流的产生,提升电子和空穴在量子阱内的注入效率,从而提高LED的内量子效率和光功率,使LED的发光效率得到提升。 | ||
搜索关键词: | 提高 量子 效率 led 外延 生长 方法 | ||
【主权项】:
1.一种提高内量子效率的LED外延生长方法,依次包括:采用金属有机化学气相沉积法MOCVD,在1000℃‑1100℃的H2气氛下,通入100L/min‑130L/min的H2,保持反应腔压力100mbar‑300mbar,处理蓝宝石衬底5min‑10min;生长低温缓冲层GaN、并对所述低温缓冲层GaN进行腐蚀,形成不规则岛型;生长不掺杂GaN层;生长掺杂Si的N型GaN层;保持反应腔压力800mbar‑950mbar,保持温度750℃‑900℃,通入流量为50000sccm‑55000sccm的NH3、50sccm‑70sccm的TMGa、90L/min‑110L/min的H2、1200sccm‑1400sccm的TMAl及1000sccm‑1500sccmDMZn,生长15nm‑35nm的掺杂Zn的AlGaN层,形成AlGaN:Zn薄垒层,其中,Zn掺杂浓度为1E17atoms/cm3‑5E17atoms/cm3;交替生长InxGa(1‑x)N/GaN发光层,其中,x=0.20‑0.25;生长P型AlGaN层;生长掺杂Mg的P型GaN层;降温至650℃‑680℃,保温20min‑30min,关闭加热系统、关闭给气系统,随炉冷却。
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