[发明专利]提高内量子效率的LED外延生长方法有效
申请号: | 201710681967.4 | 申请日: | 2017-08-10 |
公开(公告)号: | CN107507891B | 公开(公告)日: | 2019-02-15 |
发明(设计)人: | 徐平 | 申请(专利权)人: | 湘能华磊光电股份有限公司 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L33/04;H01L33/14;H01L33/32 |
代理公司: | 北京晟睿智杰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11603 | 代理人: | 于淼 |
地址: | 423038 湖南省郴*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 提高 量子 效率 led 外延 生长 方法 | ||
1.一种提高内量子效率的LED外延生长方法,依次包括:
采用金属有机化学气相沉积法MOCVD,在1000℃-1100℃的H2气氛下,通入100L/min-130L/min的H2,保持反应腔压力100mbar-300mbar,处理蓝宝石衬底5min-10min;
生长低温缓冲层GaN、并对所述低温缓冲层GaN进行腐蚀,形成不规则岛型;
生长不掺杂GaN层;
生长掺杂Si的N型GaN层;
保持反应腔压力800mbar-950mbar,保持温度750℃-900℃,通入流量为50000sccm-55000sccm的NH3、50sccm-70sccm的TMGa、90L/min-110L/min的H2、1200sccm-1400sccm的TMAl及1000sccm-1500sccmDMZn,生长15nm-35nm的掺杂Zn的AlGaN层,形成AlGaN:Zn薄垒层,其中,Zn掺杂浓度为1E17atoms/cm3-5E17atoms/cm3;
交替生长InxGa(1-x)N/GaN发光层,其中,x=0.20-0.25;
生长P型AlGaN层;
生长掺杂Mg的P型GaN层;
降温至650℃-680℃,保温20min-30min,关闭加热系统、关闭给气系统,随炉冷却。
2.根据权利要求1所述提高内量子效率的LED外延生长方法,其特征在于,生长低温缓冲层GaN、并对所述低温缓冲层GaN进行腐蚀,形成不规则岛型,进一步为:
降温至500℃-600℃,保持反应腔压力300mbar-600mbar,通入流量为10000sccm-20000sccm的NH3、50sccm-100sccm的TMGa及100L/min-130L/min的H2,在蓝宝石衬底上生长厚度为20nm-40nm的低温缓冲层GaN;
升高温度到1000℃-1100℃,保持反应腔压力300mbar-600mbar,通入流量为30000sccm-40000sccm的NH3、100L/min-130L/min的H2,保温300s-500s,将低温缓冲层GaN腐蚀成不规则岛形。
3.根据权利要求1所述提高内量子效率的LED外延生长方法,其特征在于,所述生长不掺杂GaN层,进一步为:
升高温度到1000℃-1200℃,保持反应腔压力300mbar-600mbar,通入流量为30000sccm-40000sccm的NH3、200sccm-400sccm的TMGa及100L/min-130L/min的H2,持续生长2μm-4μm的不掺杂GaN层。
4.根据权利要求1所述提高内量子效率的LED外延生长方法,其特征在于,所述生长掺杂Si的N型GaN层,进一步为:
保持反应腔压力300mbar-600mbar,保持温度1000℃-1200℃,通入流量为30000sccm-60000sccm的NH3、200sccm-400sccm的TMGa、100L/min-130L/min的H2及20sccm-50sccm的SiH4,持续生长3μm-4μm掺杂Si的N型GaN,其中,Si掺杂浓度5E18atoms/cm3-1E19atoms/cm3;
保持反应腔压力、温度不变,通入流量为30000sccm-60000sccm的NH3、200sccm-400sccm的TMGa、100L/min-130L/min的H2及2sccm-10sccm的SiH4,持续生长200nm-400nm掺杂Si的N型GaN,其中,Si掺杂浓度5E17atoms/cm3-1E18atoms/cm3。
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