[发明专利]阵列基板及其测试装置、方法以及显示装置在审
| 申请号： | 201710640122.0 | 申请日： | 2017-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN107331337A | 公开（公告）日： | 2017-11-07 |
| 发明（设计）人： | 侯涛;贾东旺;廖小刚;暴军萍;王静 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;成都京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)11201 | 代理人： | 张润 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种阵列基板及其测试装置、方法以及显示装置，其中测试装置包括测试部，测试部包括测试端；多个二极管，多个二极管中的每个二极管的阴极分别与阵列基板中同一颜色的亚像素的数据信号输入端对应相连，多个二极管的阳极相连后与测试端相连，其中，在电学测试时，测试部通过测试端输入测试信号至多个二极管的阳极，以通过多个二极管将测试信号传输至对应的亚像素的数据信号输入端；在正常显示时，通过测试端输入低电平信号至多个二极管的阳极，以使多个二极管均处于截止状态。由于二极管的阳极线和阴极线可以做的比较宽，膜层少、段差小，所以在切割过程中出现裂纹或划断的可能性很小，从而可以保证测试线路的可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 阵列 及其 测试 装置 方法 以及 显示装置 | ||
【主权项】：
一种阵列基板的测试装置，其特征在于，包括：测试部，所述测试部包括测试端；多个二极管，所述多个二极管中的每个二极管的阴极分别与阵列基板中同一颜色的亚像素的数据信号输入端对应相连，所述多个二极管的阳极相连后与所述测试端相连，其中，在电学测试时，所述测试部通过所述测试端输入测试信号至所述多个二极管的阳极，以通过所述多个二极管将所述测试信号传输至对应的亚像素的数据信号输入端；在正常显示时，通过所述测试端输入低电平信号至所述多个二极管的阳极，以使所述多个二极管均处于截止状态。
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