[发明专利]阵列基板及其测试装置、方法以及显示装置

说明书

技术领域

本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种阵列基板的测试装置、一种阵列基板、一种显示装置以及一种阵列基板的测试方法。

背景技术

目前，在Cell ET(面板电学)测试中，为了显示单色画面，需要将同一种颜色的亚像素的数据信号输入端连接在一起，并保证每个线路均处于导通状态，以进行测试，而在Module ET(模组状态)时，为了防止IC的输出信号发生短路，需要保证上述的每个线路均处于断开状态。

相关技术中，通过在每个线路中设置相应的TFT管，以在Cell ET测试时，通过控制TFT管处于导通状态来使每个线路处于导通状态，而在Module ET时，通过控制该TFT管处于断开状态，以防止IC的输出信号发生短路。但是，由于TFT管的源极线和漏极线比较细，在切割过程中，很容易发生裂纹或划断，造成线路连接不良，从而影响Cell ET测试结果。

发明内容

本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本发明的第一个目的在于提出一种阵列基板的测试装置，通过二极管来实现线路的导通和关断，由于二极管的阳极线和阴极线可以做的比较宽，膜层少、段差小，所以在切割过程中出现裂纹或划断的可能性很小，从而可以保证测试线路的可靠性，进而保证测试的准确度。

本发明的第二个目的在于提出一种阵列基板。

本发明的第三个目的在于提出一种显示装置。

本发明的第四个目的在于提出一种阵列基板的测试方法。

为实现上述目的，本发明第一方面实施例提出了一种阵列基板的测试装置，包括：测试部，所述测试部包括测试端；多个二极管，所述多个二极管中的每个二极管的阴极分别与阵列基板中同一颜色的亚像素的数据信号输入端对应相连，所述多个二极管的阳极相连后与所述测试端相连，其中，在电学测试时，所述测试部通过所述测试端输入测试信号至所述多个二极管的阳极，以通过所述多个二极管将所述测试信号传输至对应的亚像素的数据信号输入端；在正常显示时，通过所述测试端输入低电平信号至所述多个二极管的阳极，以使所述多个二极管均处于截止状态。

根据本发明实施例的阵列基板的测试装置，通过将多个二极管中的每个二极管的阴极分别与阵列基板中同一颜色的亚像素的数据信号输入端对应相连，将多个二极管的阳极相连后与测试端相连。在电学测试时，通过测试端输入测试信号至多个二极管的阳极，以通过多个二极管将测试信号传输至对应的亚像素的数据信号输入端，以及在正常显示时，通过测试端输入低电平信号至多个二极管的阳极，以使多个二极管均处于截止状态。由于二极管的阳极线和阴极线可以做的比较宽，膜层少、段差小，所以在切割过程中出现裂纹或划断的可能性很小，从而可以保证测试线路的可靠性。

根据本发明的一个实施例，上述的阵列基板的测试装置，还包括：多个电感，所述多个电感中的每个电感分别对应设置在所述二极管的阳极与所述测试端之间，或者，所述多个电感中的每个电感分别对应设置在所述二极管的阴极与所述数据信号输入端之间。

根据本发明的一个实施例，所述多个二极管中的每个二极管的阳极线和阴极线的宽度为8μm～10μm。

为实现上述目的，本发明第二方面实施例提出了一种阵列基板，其包括上述的测试装置。

根据本发明实施例的阵列基板，通过上述的测试装置，将多个二极管中的每个二极管的阴极分别与阵列基板中同一颜色的亚像素的数据信号输入端对应相连，将多个二极管的阳极相连后与测试端相连，以通过二极管来实现线路的导通和关断。由于二极管的阳极线和阴极线可以做的比较宽，膜层少、段差小，所以在切割过程中出现裂纹或划断的可能性很小，从而可以保证测试线路的可靠性，进而保证测试的准确度。

为实现上述目的，本发明第三方面实施例提出了一种显示装置，其包括上述的阵列基板。

根据本发明实施例的显示装置，通过上述的阵列基板，将多个二极管中的每个二极管的阴极分别与阵列基板中同一颜色的亚像素的数据信号输入端对应相连，将多个二极管的阳极相连后与测试端相连，以通过二极管来实现线路的导通和关断。由于二极管的阳极线和阴极线可以做的比较宽，膜层少、段差小，所以在切割过程中出现裂纹或划断的可能性很小，从而可以保证测试线路的可靠性，进而保证测试的准确度。