[发明专利]阵列基板及其测试装置、方法以及显示装置在审
| 申请号： | 201710640122.0 | 申请日： | 2017-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN107331337A | 公开（公告）日： | 2017-11-07 |
| 发明（设计）人： | 侯涛;贾东旺;廖小刚;暴军萍;王静 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;成都京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)11201 | 代理人： | 张润 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 阵列 及其 测试 装置 方法 以及 显示装置 | ||
1.一种阵列基板的测试装置，其特征在于，包括：
测试部，所述测试部包括测试端；
多个二极管，所述多个二极管中的每个二极管的阴极分别与阵列基板中同一颜色的亚像素的数据信号输入端对应相连，所述多个二极管的阳极相连后与所述测试端相连，其中，
在电学测试时，所述测试部通过所述测试端输入测试信号至所述多个二极管的阳极，以通过所述多个二极管将所述测试信号传输至对应的亚像素的数据信号输入端；
在正常显示时，通过所述测试端输入低电平信号至所述多个二极管的阳极，以使所述多个二极管均处于截止状态。
2.如权利要求1所述的阵列基板的测试装置，其特征在于，还包括：
多个电感，所述多个电感中的每个电感分别对应设置在所述二极管的阳极与所述测试端之间，或者，所述多个电感中的每个电感分别对应设置在所述二极管的阴极与所述数据信号输入端之间。
3.如权利要求1所述的阵列基板的测试装置，其特征在于，所述多个二极管中的每个二极管的阳极线和阴极线的宽度为8μm～10μm。
4.一种阵列基板，其特征在于，包括如权利要求1-3中任一项所述的测试装置。
5.一种显示装置，其特征在于，包括如权利要求4所述的阵列基板。
6.一种阵列基板的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
在阵列基板上制备多个二极管，并将多个二极管中的每个二极管的阴极分别对应连接到所述阵列基板中同一颜色的亚像素的数据信号输入端；
在电学测试时，输入测试信号至所述多个二极管的阳极，以通过所述多个二极管将所述测试信号传输至对应的亚像素的数据信号输入端；
在正常显示时，输入低电平信号至所述多个二极管的阳极，以使所述多个二极管均处于截止状态。
7.如权利要求6所述的阵列基板的测试方法，其特征在于，所述多个二极管中的每个二极管的阳极线和阴极线的宽度为8μm～10μm。
8.如权利要求6所述的阵列基板的测试方法，其特征在于，每个二极管的阳极还对应设置有第一电感。
9.如权利要求6所述的阵列基板的测试方法，其特征在于，在所述二极管的阴极与所述数据信号输入端之间还设置有第二电感。
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