[发明专利]芯片版图的检测方法及装置、计算机可读存储介质、终端有效
| 申请号： | 201710597518.1 | 申请日： | 2017-07-20 |
| 公开（公告）号： | CN109284513B | 公开（公告）日： | 2023-05-30 |
| 发明（设计）人： | 沈杨;杨成兴 | 申请（专利权）人： | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/398 | 分类号： | G06F30/398 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 张凤伟;吴敏 |
| 地址： | 201203 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种芯片版图的检测方法及装置、计算机可读介质、终端。所述方法包括：对待检测芯片的版图进行碎片化处理，得到所述待检测芯片的版图中的所有图形，所述待检测芯片为两个以上；将所述待检测芯片的版图中的所有图形分别进行二进制转化，得到所述待检测芯片对应的所有二进制图形；采用预设的新图形查找规则，从所述待检测芯片对应的所有二进制图形中查找所述待检测芯片所有图形中的新图形；采用预设的危险图形查找规则，从所述待检测芯片对应的新图形中查找影响良率的危险图形并输出。应用上述方案，可以避免新芯片引进过程中良率的下降的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 版图 检测 方法 装置 计算机 可读 存储 介质 终端 | ||
【主权项】：
1.一种芯片版图的检测方法，其特征在于，包括：对待检测芯片的版图进行碎片化处理，得到所述待检测芯片的版图中的所有图形，所述待检测芯片为两个以上；将所述待检测芯片的版图中的所有图形分别进行二进制转化，得到所述待检测芯片对应的所有二进制图形；采用预设的新图形查找规则，从所述待检测芯片对应的所有二进制图形中查找所述待检测芯片所有图形中的新图形；采用预设的危险图形查找规则，从所述待检测芯片对应的新图形中查找影响良率的危险图形并输出。
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