[发明专利]电子元件测试装置在审

专利信息
申请号: 201710356017.4 申请日: 2017-05-19
公开(公告)号: CN108957201A 公开(公告)日: 2018-12-07
发明(设计)人: 林源记;谢志宏;林世芳 申请(专利权)人: 亚克先进科技股份有限公司
主分类号: G01R31/01 分类号: G01R31/01
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 王玉双;李岩
地址: 中国台湾苗栗县头*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明为一种电子元件测试装置,包含机体、测试模块、承载台及升降导引件。测试模块设置于机体。承载台可相对测试模块沿第一方向位移地设置于机体上,且承载台具有配合部。升降导引件可沿垂直于第一方向的第二方向移动地设置于机体,升降导引件具有导引部,导引部具有第一端及第二端,第一端及第二端位于第一方向的不同位置上,当导引部于第二方向上与配合部重叠时,配合部相对于导引部配合导引而沿第一方向位移。
搜索关键词: 导引部 测试模块 承载台 导引件 电子元件测试装置 升降 方向位移 第一端 配合 方向移动 导引 垂直
【主权项】:
1.一种电子元件测试装置,其特征在于,包含:一机体;一测试模块,设置于该机体;一承载台,可相对该测试模块沿一第一方向位移地设置于该机体上,且该承载台具有一配合部;以及一升降导引件,可沿垂直于该第一方向的一第二方向移动地设置于该机体,该升降导引件具有一导引部,该导引部具有一第一端及一第二端,该第一端及该第二端位于该第一方向的不同位置上,当该导引部于该第二方向上与该配合部重叠时,该配合部相对于该导引部配合导引而沿该第一方向位移。
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