[发明专利]电子元件测试装置

权利要求书

1.一种电子元件测试装置，其特征在于，包含：

一机体；

一测试模块，设置于该机体；

一承载台，可相对该测试模块沿一第一方向位移地设置于该机体上，且该承载台具有一配合部；以及

一升降导引件，可沿垂直于该第一方向的一第二方向移动地设置于该机体，该升降导引件具有一导引部，该导引部具有一第一端及一第二端，该第一端及该第二端位于该第一方向的不同位置上，当该导引部于该第二方向上与该配合部重叠时，该配合部相对于该导引部配合导引而沿该第一方向位移。

2.如权利要求1所述的电子元件测试装置，其特征在于，更包含一测试主机，设置于该机体，该测试主机与该测试模块电性连接。

3.如权利要求1所述的电子元件测试装置，其特征在于，更包含一第一平移导引单元，设置于该机体，该承载台连接于该第一平移导引单元并能沿该第二方向位移。

4.如权利要求1所述的电子元件测试装置，其特征在于，更包含一第二平移导引单元，设置于该机体，该升降导引件连接于该第二平移导引单元并能沿该第二方向位移。

5.如权利要求4所述的电子元件测试装置，其特征在于，更包含一第二驱动源，设置于该机体上，该第二驱动源连接该第二平移导引单元以驱动该第二平移导引单元带动该升降导引件沿该第二方向位移。

6.如权利要求1所述的电子元件测试装置，其特征在于，该配合部为凸轮，该导引部为槽导。

7.如权利要求1所述的电子元件测试装置，其特征在于，该导引部包含一顶升段，该顶升段倾斜延伸并与该第二方向具有一顶升角。

8.如权利要求7所述的电子元件测试装置，其特征在于，该导引部包含多个顶升段，该多个顶升段位于不同的第一方向位置上，且该多个顶升段分别与该第二方向具有一顶升角，越靠近测试模块于第一方向上位置的顶升段的顶升角越小。

9.如权利要求7所述的电子元件测试装置，其特征在于，该导引部更包含一平移段，该平移段连接该顶升段，该平移段沿该第二方向延伸，且该平移段与该顶升段位于不同的第二方向位置上，该第一端位于该平移段，该第二端位于该顶升段。

10.如权利要求9所述的电子元件测试装置，其特征在于，该配合部包含一第一配合部及一第二配合部，该升降导引件包含一第一导引部及一第二导引部，当该升降导引件于该第二方向上与该承载台重叠时，该第一配合部容置于该第一导引部内，该第二配合部容置于该第二导引部内。

11.如权利要求10所述的电子元件测试装置，其中，该第二导引部的平移段的范围于该第二方向上与该第一导引部的全部重叠。