[发明专利]电子元件测试装置

说明书

本发明为一种电子元件测试装置，包含机体、测试模块、承载台及升降导引件。测试模块设置于机体。承载台可相对测试模块沿第一方向位移地设置于机体上，且承载台具有配合部。升降导引件可沿垂直于第一方向的第二方向移动地设置于机体，升降导引件具有导引部，导引部具有第一端及第二端，第一端及第二端位于第一方向的不同位置上，当导引部于第二方向上与配合部重叠时，配合部相对于导引部配合导引而沿第一方向位移。

技术领域

本发明与电子元件测试装置有关。

背景技术

按，在半导体产业的电子元件制程中，电子元件在出厂前必须经过测试手续确认其机能正常。一般的测试机台具有测试模块、取置模块、承载治具及驱动源。取置模块能将电子元件取置于承载治具上，承载治具供置放电子元件，测试模块对电子元件进行测试。其测试时，驱动源驱动承载治具垂直顶升并向测试模块位移靠近以与测试模块的测试端子接触而进行测试。然，一般的测试模块的承载治具仅能置放单一颗、单一种类的电子元件，取置模块每次也仅能取置单一颗电子元件，测试效率不彰。此外，当需测试不同的电子元件时，还必须更换不同的承载治具才能承载不同型态的电子元件，使用上的便利性有待改善。

此外，测试模块与电子元件接触时必须具有特定的接触力以确保测试的稳定性。因此，一般的测试机台多是配置垂直延伸的驱动源，驱动源对承载治具施以垂直方向的驱动力，使承载治具产生垂直方向的位移动作。通过驱动源的驱动力驱动承载治具沿与其驱动力量方向相同之方向接触测试模块。由此可见，在此配置下，驱动源为驱动承载治具升降因而必须沿垂直方向延伸。如此一来，测试机台于垂直方向上的体积无法减缩，导致测试机台也难以做垂直方向上层叠使用，因而无法作多测试区的配置，导致测试效率难以有效提升。

发明内容

本发明实施例提供一种电子元件测试装置，其主要目的是改善一般测试机台难以满足多测试区的配置，无法有效提升测试效率的缺失。

为达前述目的，本发明实施例为一种电子元件测试装置，包含机体、测试模块、承载台及升降导引件。测试模块设置于机体。承载台可相对测试模块沿第一方向位移地设置于机体上，且承载台具有配合部。升降导引件可沿垂直于第一方向的第二方向移动地设置于机体，升降导引件具有导引部，导引部具有第一端及第二端，第一端及第二端位于第一方向的不同位置上，当导引部于第二方向上与配合部重叠时，配合部相对于导引部配合导引而沿第一方向位移。

本实施例通过沿第二方向位移的升降导引件带动承载台沿第一方向位移，不须增加第一方向上的空间设置带动承载台位移的部件，据此可以大幅降低电子元件测试装置于第一方向上的体积占据，而能使电子元件测试装置能于第一方向上重叠使用，满足多测试区的配置，并能在相同的空间下大幅提高测试效率。

附图说明

图1为本发明电子元件测试装置一实施例的立体外观图。

图2为本发明电子元件测试装置一实施例的另一视角立体外观图。

图3为本发明电子元件测试装置一实施例的立体剖视图。

图4为接续图3例的动作示意图。

图5为本发明电子元件测试装置一实施例的承载台改变位置的立体外观图。

图6为图5例的侧视图。

图7为图5例的立体剖视图。

图8为接续图7的动作示意图。

图9为图8实施例状态的立体外观图。

图10为图9例的外观侧视图。

其中附图标记为：

10机体 11第一承架

12第二承架 20测试主机

21操控面板 30测试模块