[发明专利]一种用于检测集成电路老化效应的传感器有效

专利信息
申请号: 201710323721.X 申请日: 2017-05-10
公开(公告)号: CN107290645B 公开(公告)日: 2019-08-06
发明(设计)人: 彭双;张跃军;丁代鲁;洪朗 申请(专利权)人: 宁波大学
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 宁波奥圣专利代理事务所(普通合伙) 33226 代理人: 方小惠
地址: 315211 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种用于检测集成电路老化效应的传感器,包括NBTI阈值提取电路、HCI阈值提取电路、第一减法电路、第二减法电路、第一电压转频率电路、第二电压转频率电路、第一缓冲器、第二缓冲器、第一计数器、第二计数器和脉冲产生电路,第一计数器和第二计数器分别具有清零端、输入端和输出端;NBTI阈值提取电路的输入端、HCI阈值提取电路的输入端和脉冲产生电路的输入端连接其连接端为传感器的输入端,NBTI阈值提取电路的输出端和第一减法电路的输入端连接,第一计数器的输出端为传感器的第一输出端,第二计数器的输出端为传感器的第二输出端;优点是可以同时就监测NBTI效应和HCI效应,鲁棒性较高。
搜索关键词: 一种 用于 检测 集成电路 老化 效应 传感器
【主权项】:
1.一种用于检测集成电路老化效应的传感器,其特征在于包括NBTI阈值提取电路、HCI阈值提取电路、第一减法电路、第二减法电路、第一电压转频率电路、第二电压转频率电路、第一缓冲器、第二缓冲器、第一计数器、第二计数器和脉冲产生电路,所述的第一计数器和所述的第二计数器分别具有清零端、输入端和输出端;所述的NBTI阈值提取电路的输入端、所述的HCI阈值提取电路的输入端和所述的脉冲产生电路的输入端连接其连接端为所述的传感器的输入端,所述的NBTI阈值提取电路的输出端和所述的第一减法电路的输入端连接,所述的第一减法电路的输出端和所述的第一电压转频率电路的输入端连接,所述的第一电压转频率电路的输出端和所述的第一缓冲器的输入端连接,所述的第一缓冲器的输出端和所述的第一计数器的输入端连接,所述的第一计数器的输出端为所述的传感器的第一输出端;所述的HCI阈值提取电路的输出端和所述的第二减法电路的输入端连接,所述的第二减法电路的输出端和所述的第二电压转频率电路的输入端连接,所述的第二电压转频率电路的输出端和所述的第二缓冲器的输入端连接,所述的第二缓冲器的输出端和所述的第二计数器的输入端连接,所述的第二计数器的输出端为所述的传感器的第二输出端;所述的脉冲产生电路的输出端分别与所述的第一计数器的清零端和所述的第二计数器的清零端连接。
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