[发明专利]一种ITO导电玻璃缺陷检测成像方法有效
| 申请号： | 201710231444.X | 申请日： | 2017-04-11 |
| 公开（公告）号： | CN106885809B | 公开（公告）日： | 2019-03-15 |
| 发明（设计）人： | 张少波;张红;陈诚;钟汝梅;胡劲松;张明明;吕明泽;许红灯;黄涛涛 | 申请（专利权）人： | 安徽省蚌埠华益导电膜玻璃有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 昆明合众智信知识产权事务所 53113 | 代理人： | 张玺 |
| 地址： | 233000 安徽省蚌*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种ITO导电玻璃缺陷检测成像方法，包括以下步骤：步骤1：打开光源；步骤2：调整分光镜的角度；步骤3：在下显示屏表面和上显示屏表面均匀的喷涂溴化银；步骤4：调整反光镜一的角度；步骤5：调整反光镜二的角度；步骤6：移动光源。本发明在一个光源的情况下，通过喷涂有溴化银的显示屏来进行待测玻璃表面反射光线的成像，若玻璃表面有缺陷，缺陷对应部位的就无法很好的将光线反射到显示屏上，也就无法照射到显示屏上的溴化银，没有反射光照照射的溴化银不会发生变色，从而使得在显示屏上成像的图案会更加便于观察，不需要使用电子设备，而且观察检测结果更加精确，非常方便，值得推广。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 ito 导电 玻璃 缺陷 检测 成像 方法 | ||
【主权项】：
1.一种ITO导电玻璃缺陷检测成像方法，包括以下步骤：步骤1：打开光源(2)，使光源(2)沿着主光轴(21)照射在分光镜(4)上；其特征在于，步骤2：调整分光镜(4)的角度，使主光轴(21)的光线经分光镜(4)引射后，一部分光线照射在反光镜一(6)上，另一部分光线照射在反光镜二(5)上；步骤3：在下显示屏(10)表面和上显示屏(11)表面均匀的喷涂溴化银；步骤4：调整反光镜一(6)的角度，使照射在反光镜一(6)上的光线经反射后照射在玻璃(7)的下表面边缘，玻璃(7)的下表面再将这部分光线引射到下显示屏(10)涂有溴化银的一面上；步骤5：调整反光镜二(5)的角度，使照射在反光镜二(5)上的光线经反射后照射在玻璃(7)的上表面边缘，玻璃(7)的上表面再将这部分光线引射到上显示屏(11)涂有溴化银的一面上；步骤6：移动光源(2)，使照射在玻璃(7)上、下表面边缘的光线同时向玻璃(7)的另一侧边缘移动，在上显示屏(11)和下显示屏(10)上成像。
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