[发明专利]一种ITO导电玻璃缺陷检测成像方法

说明书

本发明公开了一种ITO导电玻璃缺陷检测成像方法，包括以下步骤：步骤1：打开光源；步骤2：调整分光镜的角度；步骤3：在下显示屏表面和上显示屏表面均匀的喷涂溴化银；步骤4：调整反光镜一的角度；步骤5：调整反光镜二的角度；步骤6：移动光源。本发明在一个光源的情况下，通过喷涂有溴化银的显示屏来进行待测玻璃表面反射光线的成像，若玻璃表面有缺陷，缺陷对应部位的就无法很好的将光线反射到显示屏上，也就无法照射到显示屏上的溴化银，没有反射光照照射的溴化银不会发生变色，从而使得在显示屏上成像的图案会更加便于观察，不需要使用电子设备，而且观察检测结果更加精确，非常方便，值得推广。

技术领域

本发明涉及玻璃检测技术领域，具体涉及一种ITO导电玻璃缺陷检测成像方法。

背景技术

ITO导电玻璃是在钠钙基或硅硼基基片玻璃的基础上，利用磁控溅射的方法镀上一层氧化铟锡膜加工制作成的，大部分液晶显示器专用ITO导电玻璃，所以随着液晶显示器使用的普及，ITO导电玻璃的生产量也在稳步上升，但是在玻璃的生产过程中很容易出现因生产工艺落后或者操作不当而造成玻璃的缺陷，所以我们需要对刚生产出的玻璃进行缺陷检测。

现有技术中，对玻璃的检测大多采用对玻璃进行光照，然后对反射或者折射后的光线进行成像收集，从收集的图像中来判断玻璃表面的缺陷程度，但是目前技术中对玻璃缺陷检测的成像方法存在以下几点明显的缺陷：1、使用光学照相机等电子设备进行成像，由于设备较贵，增加了玻璃生产成本；2、使用普通显示屏进行光照后的成像，但是很难进行成像后的观察，非常不方便对缺陷检测的结构进行判定，十分麻烦。

发明内容

本发明的目的在于提供一种ITO导电玻璃缺陷检测成像方法，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种ITO导电玻璃缺陷检测成像方法，包括以下步骤：

步骤1：打开光源，使光源沿着主光轴照射在分光镜上；

步骤2：调整分光镜的角度，使主光轴的光线经分光镜引射后，一部分光线照射在反光镜一上，另一部分光线照射在反光镜二上；

步骤3：在下显示屏表面和上显示屏表面均匀的喷涂溴化银；

步骤4：调整反光镜一的角度，使照射在反光镜一上的光线经反射后照射在玻璃的下表面边缘，玻璃的下表面再将这部分光线引射到下显示屏涂有溴化银的一面上；

步骤5：调整反光镜二的角度，使照射在反光镜二上的光线经反射后照射在玻璃的上表面边缘，玻璃的上表面再将这部分光线引射到上显示屏涂有溴化银的一面上；

步骤6：移动光源，使照射在玻璃上、下表面边缘的光线同时向玻璃的另一侧边缘移动，在上显示屏和下显示屏上成像。

优选的，所述分光镜和反光镜二安装于固定杆一上，所述反光镜一安装于固定杆二上，所述固定杆一和固定杆二均固定于光源上。

优选的，所述光源设置于传送带上。

优选的，所述光源的光照强度大于5000cd。

优选的，所述玻璃侧壁通过连接杆固定于安装块上，所述上显示屏和下显示屏分别对称的安装于安装块的上下两侧。

优选的，上述步骤1至步骤6全部在暗盒内进行。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：

本发明通过光源产生光照，然后经过分光镜的分光作用，将光源的一束光照分为两束光照，两束光照分别通过反光镜一和反光镜二的反射，分别照射在待检测玻璃的上表面边缘和下表面边缘处，玻璃的上、下表面将光照反射在上、下显示屏上，最后光照在显示屏上进行成像。