[发明专利]一种ITO导电玻璃缺陷检测成像方法

权利要求书

1.一种ITO导电玻璃缺陷检测成像方法，包括以下步骤：

步骤1：打开光源(2)，使光源(2)沿着主光轴(21)照射在分光镜(4)上；

其特征在于，步骤2：调整分光镜(4)的角度，使主光轴(21)的光线经分光镜(4)引射后，一部分光线照射在反光镜一(6)上，另一部分光线照射在反光镜二(5)上；

步骤3：在下显示屏(10)表面和上显示屏(11)表面均匀的喷涂溴化银；

步骤4：调整反光镜一(6)的角度，使照射在反光镜一(6)上的光线经反射后照射在玻璃(7)的下表面边缘，玻璃(7)的下表面再将这部分光线引射到下显示屏(10)涂有溴化银的一面上；

步骤5：调整反光镜二(5)的角度，使照射在反光镜二(5)上的光线经反射后照射在玻璃(7)的上表面边缘，玻璃(7)的上表面再将这部分光线引射到上显示屏(11)涂有溴化银的一面上；

步骤6：移动光源(2)，使照射在玻璃(7)上、下表面边缘的光线同时向玻璃(7)的另一侧边缘移动，在上显示屏(11)和下显示屏(10)上成像。

2.根据权利要求1所述的一种ITO导电玻璃缺陷检测成像方法，其特征在于：所述分光镜(4)和反光镜二(5)安装于固定杆一(3)上，所述反光镜一(6)安装于固定杆二(31)上，所述固定杆一(3)和固定杆二(31)均固定于光源(2)上。

3.根据权利要求1所述的一种ITO导电玻璃缺陷检测成像方法，其特征在于：所述光源(2)设置于传送带(1)上。

4.根据权利要求1所述的一种ITO导电玻璃缺陷检测成像方法，其特征在于：所述光源(2)的光照强度大于5000cd。

5.根据权利要求1所述的一种ITO导电玻璃缺陷检测成像方法，其特征在于：所述玻璃(7)侧壁通过连接杆(8)固定于安装块(9)上，所述上显示屏(11)和下显示屏(10)分别对称的安装于安装块(9)的上下两侧。

6.根据权利要求1所述的一种ITO导电玻璃缺陷检测成像方法，其特征在于：上述步骤1至步骤6全部在暗盒(12)内进行。