[发明专利]用于检测存储器故障的测试方法及测试电路有效
| 申请号： | 201710221450.7 | 申请日： | 2017-04-06 |
| 公开（公告）号： | CN108694985B | 公开（公告）日： | 2020-10-16 |
| 发明（设计）人： | 张静;汤志;潘劲东 | 申请（专利权）人： | 中芯国际集成电路制造（北京）有限公司;中芯国际集成电路制造（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/18 | 分类号： | G11C29/18;G11C29/16 |
| 代理公司： | 北京市磐华律师事务所 11336 | 代理人： | 高伟;娄晓丹 |
| 地址： | 100176 北京市大*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了用于检测存储器故障的测试方法及测试电路，所述测试方法包括：从低地址到高地址或从高低址到低地址依次对每个地址进行写0操作；对存储器从低地址到高地址依次对每个地址进行写0、读0、读0、写1和读1操作；对所述存储器从低地址到高地址依次对每个地址进行读1、写0、写0和读0操作；对所述存储器从高地址到低地址依次对每个地址进行读0、写1、写1和读1操作；对所述存储器从高地址到低地址依次对每个地址进行写1、读1、读1、写0和读0操作；以及对所述存储器从低地址到高地址或从高低址到低地址依次对每个地址进行读0操作。本发明的测试方法能够快速测试存储器的干扰故障和固定开路故障以及常规故障，且测试时间短。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 存储器 故障 测试 方法 电路 | ||
【主权项】：
1.一种用于检测存储器故障的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：从低地址到高地址或从高低址到低地址依次对每个地址进行写0操作；对存储器从低地址到高地址依次对每个地址进行写0、读0、读0、写1和读1操作；对所述存储器从低地址到高地址依次对每个地址进行读1、写0、写0和读0操作；对所述存储器从高地址到低地址依次对每个地址进行读0、写1、写1和读1操作；对所述存储器从高地址到低地址依次对每个地址进行写1、读1、读1、写0和读0操作；以及对所述存储器从低地址到高地址或从高低址到低地址依次对每个地址进行读0操作。
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