[发明专利]用于检测存储器故障的测试方法及测试电路

权利要求书

1.一种用于检测存储器故障的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

从低地址到高地址或从高低址到低地址依次对每个地址进行写0操作；

对存储器从低地址到高地址依次对每个地址进行写0、读0、读0、写1和读1操作；

对所述存储器从低地址到高地址依次对每个地址进行读1、写0、写0和读0操作；

对所述存储器从高地址到低地址依次对每个地址进行读0、写1、写1和读1操作；

对所述存储器从高地址到低地址依次对每个地址进行写1、读1、读1、写0和读0操作；以及

对所述存储器从低地址到高地址或从高低址到低地址依次对每个地址进行读0操作。

2.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括在每次读操作后将读取的数据与期望值进行比较，以产生测试结果。

3.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述测试方法由有限状态机自动实施。

4.如权利要求3所述的测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括在所述有限状态机失效时，从所述存储器的输入引脚直接输入测试所需的数据。

5.一种用于实现如权利要求1至4之一所述测试方法的测试电路，其特征在于，包括数据产生器、地址产生器和控制信号产生器，其中：

所述数据产生器用于产生测试所需的写入数据；

所述地址产生器用于产生要测试的存储单元的地址数据；

所述控制信号产生器用于产生控制数据，以控制进行读操作或写操作。

6.如权利要求5所述的测试电路，其特征在于，所述数据产生器、所述地址产生器和所述控制信号产生器由有限状态机实现。

7.如权利要求6所述的测试电路，其特征在于，所述测试电路还包括比较器，用于将读取的数据与期望值进行比较，以产生测试结果，其中，

所述有限状态机的一个输出端连接至所述比较器的一输入端，所述存储器的输出引脚连接至所述比较器的另一输入端，所述比较器的输出端输出所述测试结果。

8.如权利要求7所述的测试电路，其特征在于，所述测试电路还包括第一逻辑模块和多个多路复用器，其中，

所述有限状态机的多个输出端分别连接至所述多个多路复用的输入端，所述第一逻辑模块的多个输出端分别连接至所述多个多路复用器的另一输入端，所述多个多路复用器的输出端分别连接至所述存储器的多个输入引脚，

其中，在所述有限状态机失效时，能够从所述存储器的所述多个输入引脚直接输入测试所需的数据。

9.如权利要求7或8所述的测试电路，其特征在于，所述测试电路还包括第二逻辑模块，所述第二逻辑模块连接至所述存储器的所述输出引脚，用于选择要输出的数据的位数。

10.如权利要求7所述的测试电路，其特征在于，所述比较器为电压比较器。

11.如权利要求5所述的测试电路，其特征在于，所述存储器为静态随机存取存储器。