[发明专利]自动测量仪及其方法在审
| 申请号： | 201710181751.1 | 申请日： | 2017-03-24 |
| 公开（公告）号： | CN108627088A | 公开（公告）日： | 2018-10-09 |
| 发明（设计）人： | 卢冬 | 申请（专利权）人： | 汉达精密电子（昆山）有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215300 江苏省苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及光学影像测量技术领域，具体是涉及一种自动测量仪及其方法。本发明的自动测量仪，包括：测量框架、光源、取像元件、存储单元、图像处理单元及显示单元。所述测量方法，包括步骤：在存储单元中存储标准产品的图像；将待测产品放置于光源上方；取像元件采集待测产品的图像；图像处理单元比对取像元件采集的图像与存储单元中存储的标准产品的图像，获得测试结果；显示单元显示测试结果。本发明的自动测量仪及其方法，无需再对待测产品捕捉点进行重新测量，即使产品位置有偏差，依然能方便、快速地测量，测量效率高。 | ||
| 搜索关键词： | 自动测量仪 存储单元 取像元件 测量 图像 图像处理单元 待测产品 光源 光学影像测量 采集 标准产品 测量效率 产品位置 存储标准 比对 存储 捕捉 | ||
【主权项】：
1.一种自动测量仪，其特征在于，包括：测量框架，其具有测量平台放置待测产品；光源，其设于测量平台上，待测产品位于光源上方；取像元件，位于待测产品的上方，采集待测产品的图像；存储单元，存储标准产品的图像；图像处理单元，与取像元件及存储单元连接，比对取像元件采集的图像与存储单元中存储的标准产品的图像，获得测试结果；显示单元，与图像处理单元连接，显示测试结果。
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