[发明专利]自动测量仪及其方法

说明书

本发明涉及光学影像测量技术领域，具体是涉及一种自动测量仪及其方法。本发明的自动测量仪，包括：测量框架、光源、取像元件、存储单元、图像处理单元及显示单元。所述测量方法，包括步骤：在存储单元中存储标准产品的图像；将待测产品放置于光源上方；取像元件采集待测产品的图像；图像处理单元比对取像元件采集的图像与存储单元中存储的标准产品的图像，获得测试结果；显示单元显示测试结果。本发明的自动测量仪及其方法，无需再对待测产品捕捉点进行重新测量，即使产品位置有偏差，依然能方便、快速地测量，测量效率高。

【技术领域】

本发明涉及光学影像测量技术领域，具体是涉及一种自动测量仪及其方法。

【背景技术】

光学影像测量仪是一种非接触式的测量设备，具有快速高效的优点。目前市场上最常见的为二次元光学影像测量仪，测量产品的长、宽等基本尺寸以及其包含的孔或凹槽等其他几何尺寸。

目前市场上常见的光学影像测量仪，需要在测量框架上固定定位治具，在定位治具上找基准，然后再在定位治具上放置产品，根据基准沿着产品捕捉点进行测量。然而，该种光学影像测量仪，再次测量相同的产品时，产品放置位置需要同前次相同，不能有偏差，若有偏差，则不能捕捉点进行测量，对测量工作带来了不便，影响了测量效率。

有鉴于此，实有必要开发一种自动测量仪，以解决上述再次测量时不能有位置偏差，测量效率低的问题。

【发明内容】

因此，本发明的目的是提供一种自动测量仪，该自动测量仪在再次测量相同的产品时，即使产品位置有偏差，依然能方便、快速地测量，测量效率高。

为了达到上述目的，本发明的自动测量仪，包括：

测量框架，其具有测量平台放置待测产品；

光源，其设于测量平台上，待测产品位于光源上方；

取像元件，位于待测产品的上方，采集待测产品的图像；

存储单元，存储标准产品的图像；

图像处理单元，与取像元件及存储单元连接，比对取像元件采集的图像与存储单元中存储的标准产品的图像，获得测试结果；

显示单元，与图像处理单元连接，显示测试结果。

可选的，所述测量平台的测量范围为500×700mm。

可选的，所述光源为偏振光源。

可选的，所述取像元件为千兆以太网工业相机。

可选的，所述显示单元为液晶显示屏。

可选的，所述测量框架上方设有活动的支撑架，所述支撑架具有两竖轴及连接在两竖轴之间的横轴，所述取像元件活动设于横轴上。

可选的，所述横轴上设有可上下活动的连接轴，所述取像元件设于该连接轴上，且连接轴上设有镭射测量仪测量产品的高度。

另外，本发明还提供一种自动测量方法，包括步骤：

在存储单元中存储标准产品的图像；

将待测产品放置于光源上方；

取像元件采集待测产品的图像；

图像处理单元比对取像元件采集的图像与存储单元中存储的标准产品的图像，获得测试结果；

显示单元显示测试结果。

可选的，在存储单元中存储标准产品的图像的具体步骤为：将标准产品放置于光源上方；取像元件采集标准产品的图像；取像元件将标准产品的图像传送至存储单元中存储；取像元件将标准产品的图像传送至图像处理单元，进行计算尺寸。