[发明专利]自动测量仪及其方法在审
| 申请号： | 201710181751.1 | 申请日： | 2017-03-24 |
| 公开（公告）号： | CN108627088A | 公开（公告）日： | 2018-10-09 |
| 发明（设计）人： | 卢冬 | 申请（专利权）人： | 汉达精密电子（昆山）有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215300 江苏省苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 自动测量仪 存储单元 取像元件 测量 图像 图像处理单元 待测产品 光源 光学影像测量 采集 标准产品 测量效率 产品位置 存储标准 比对 存储 捕捉 | ||
1.一种自动测量仪，其特征在于，包括：
测量框架，其具有测量平台放置待测产品；
光源，其设于测量平台上，待测产品位于光源上方；
取像元件，位于待测产品的上方，采集待测产品的图像；
存储单元，存储标准产品的图像；
图像处理单元，与取像元件及存储单元连接，比对取像元件采集的图像与存储单元中存储的标准产品的图像，获得测试结果；
显示单元，与图像处理单元连接，显示测试结果。
2.根据权利要求1所述的自动测量仪，其特征在于，所述测量平台的测量范围为500×700mm。
3.根据权利要求1所述的自动测量仪，其特征在于，所述光源为偏振光源。
4.根据权利要求1所述的自动测量仪，其特征在于，所述取像元件为千兆以太网工业相机。
5.根据权利要求1所述的自动测量仪，其特征在于，所述显示单元为液晶显示屏。
6.根据权利要求1所述的自动测量仪，其特征在于，所述测量框架上方设有活动的支撑架，所述支撑架具有两竖轴及连接在两竖轴之间的横轴，所述取像元件活动设于横轴上。
7.根据权利要求6所述的自动测量仪，其特征在于，所述横轴上设有可上下活动的连接轴，所述取像元件设于该连接轴上，且连接轴上设有镭射测量仪测量产品的高度。
8.一种自动测量方法，其特征在于，包括步骤：
在存储单元中存储标准产品的图像；
将待测产品放置于光源上方；
取像元件采集待测产品的图像；
图像处理单元比对取像元件采集的图像与存储单元中存储的标准产品的图像，获得测试结果；
显示单元显示测试结果。
9.根据权利要求8所述的自动测量方法，其特征在于，在存储单元中存储标准产品的图像的具体步骤为：将标准产品放置于光源上方；取像元件采集标准产品的图像；取像元件将标准产品的图像传送至存储单元中存储；取像元件将标准产品的图像传送至图像处理单元，进行计算尺寸。
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