[发明专利]一种检验PCB中DIP器件位置信息的方法在审
| 申请号： | 201710131622.1 | 申请日： | 2017-03-07 |
| 公开（公告）号： | CN106817843A | 公开（公告）日： | 2017-06-09 |
| 发明（设计）人： | 高新迪;刘永哲;翟西斌 | 申请（专利权）人： | 济南浪潮高新科技投资发展有限公司 |
| 主分类号： | H05K3/00 | 分类号： | H05K3/00 |
| 代理公司： | 济南信达专利事务所有限公司37100 | 代理人： | 孙晶伟 |
| 地址： | 250100 山东省济南市*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明公开一种检验PCB中DIP器件位置信息的方法，涉及PCB设计领域；测量DIP元器件本体与PCB边缘的距离，得到测量距离数据，比较测量的距离数据与安全距离的大小，当测量的距离数据大于安全距离时，DIP元器件本体的位置信息正常，否则判定DIP元器件本体的位置信息异常；本发明是对PCB设计中其中一种DIP元器件进行位置信息的检验，查看DIP器件的位置是否放置错误，防止PCB板上电气连接异常的器件出现,保证PCB设计的正确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 检验 pcb dip 器件 位置 信息 方法 | ||
【主权项】：
一种检验PCB中DIP器件位置信息的方法，其特征是测量DIP元器件本体与PCB边缘的距离，得到测量距离数据，比较测量的距离数据与安全距离的大小，当测量的距离数据大于安全距离时，DIP元器件本体的位置信息正常，否则判定DIP元器件本体的位置信息异常。
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