[发明专利]一种检验PCB中DIP器件位置信息的方法在审
| 申请号: | 201710131622.1 | 申请日: | 2017-03-07 |
| 公开(公告)号: | CN106817843A | 公开(公告)日: | 2017-06-09 |
| 发明(设计)人: | 高新迪;刘永哲;翟西斌 | 申请(专利权)人: | 济南浪潮高新科技投资发展有限公司 |
| 主分类号: | H05K3/00 | 分类号: | H05K3/00 |
| 代理公司: | 济南信达专利事务所有限公司37100 | 代理人: | 孙晶伟 |
| 地址: | 250100 山东省济南市*** | 国省代码: | 山东;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 检验 pcb dip 器件 位置 信息 方法 | ||
技术领域
本发明公开一种检验PCB中DIP器件位置信息的方法,涉及PCB设计领域。
背景技术
PCB( Printed Circuit Board),印制电路板,又称印刷线路板,是重要的电子部件,是电子元器件的支撑体,也是电子元器件电气连接的载体。由于它是采用电子印刷术制作的,故被称为"印刷"电路板。目前几乎每种电子设备,小到电子手表、计算器,大到计算机,通讯电子设备,军用武器系统,只要有集成电路等电子元器件,为了它们之间的电气互连,都要使用印制板。随着电子信息技术的不断发展,电子产品的集成度也越来越高,PCB作为电子产品各个功能的载体,在较大型的电子产品研究过程中,最基本的成功因素是该产品的印制板的设计、文件编制和制造。印制板的设计和制造质量直接影响到整个产品的质量和成本,甚至导致商业竞争的成败。本发明提供一种检验PCB中DIP器件位置信息的方法,是对PCB设计中其中一种DIP元器件进行位置信息的检验,查看DIP器件的位置是否放置错误,防止PCB板上电气连接异常的器件出现,保证PCB设计的正确性。
其中DIP封装,也叫双列直插式封装技术,双入线封装,指采用双列直插形式封装的集成电路芯片,绝大多数中小规模集成电路均采用这种封装形式,其引脚数一般不超过100。DIP封装的CPU芯片有两排引脚,需要插入到具有DIP结构的芯片插座上。当然,也可DIP封装以直接插在有相同焊孔数和几何排列的电路板上进行焊接。
发明内容
本发明提供一种检验PCB中DIP器件位置信息的方法,查看DIP器件的位置是否放置错误,防止PCB板上电气连接异常的器件出现,保证PCB设计的正确性,具有通用性强、实施简便等特点,具有广阔的应用前景。
本发明提出的具体方案是:
一种检验PCB中DIP器件位置信息的方法,
测量DIP元器件本体与PCB边缘的距离,得到测量距离数据,
比较测量的距离数据与安全距离的大小,当测量的距离数据大于安全距离时,DIP元器件本体的位置信息正常,否则判定DIP元器件本体的位置信息异常。
所述从DIP元器件本体的中心位置测量与PCB边缘的距离,得到测量距离数据。
根据实际情况,预先定义安全距离的大小。
使用Candence软件的Display-Measure命令测量DIP元器件本体与PCB边缘的距离,得到测量距离数据。
具体步骤为:
打开Candence软件选择为Display-Element ,逐一点击所要检测的DIP器件,显示出器件的中心坐标,点击Display-Measure 测量DIP元器件本体与PCB边缘的距离,得到测量距离数据;
自动检测DIP器件,比较测量距离数据:
当测量的距离数据大于安全距离时,DIP元器件本体的位置信息正常,否则判定DIP元器件本体的位置信息异常。
一种检验PCB中DIP器件位置信息的系统:
包括测量模块、比较验证模块,
测量模块用于测量DIP元器件本体与PCB边缘的距离,得到测量距离数据,
比较验证模块用于比较测量的距离数据与安全距离的大小,当测量的距离数据大于安全距离时,DIP元器件本体的位置信息正常,否则判定DIP元器件本体的位置信息异常。
所述测量模块从DIP元器件本体的中心位置测量与PCB边缘的距离,得到测量距离数据。
所述比较验证模块根据实际情况,预先定义安全距离的大小。
本发明的有益之处是:
本发明公开一种检验PCB中DIP器件位置信息的方法:测量DIP元器件本体与PCB边缘的距离,得到测量距离数据,比较测量的距离数据与安全距离的大小,当测量的距离数据大于安全距离时,DIP元器件本体的位置信息正常,否则判定DIP元器件本体的位置信息异常;利用本发明是对PCB设计中其中一种DIP元器件进行位置信息的检验,查看DIP器件的位置是否放置错误,防止PCB板上电气连接异常的器件出现,保证PCB设计的正确性,具有通用性强、实施简便等特点,具有广阔的应用前景。
附图说明
图1是本发明方法流程示意图。
图2本发明系统框架示意图。
具体实施方式
本发明提供一种检验PCB中DIP器件位置信息的方法,
测量DIP元器件本体与PCB边缘的距离,得到测量距离数据,
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