[发明专利]阵列基板测试电路及其制作方法、显示面板在审

专利信息
申请号: 201710121073.X 申请日: 2017-03-02
公开(公告)号: CN106773426A 公开(公告)日: 2017-05-31
发明(设计)人: 王倩;虞晓江 申请(专利权)人: 武汉华星光电技术有限公司
主分类号: G02F1/1362 分类号: G02F1/1362;G02F1/1343;G01R31/28
代理公司: 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙)44280 代理人: 钟子敏
地址: 430070 湖北省武汉市*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开一种阵列基板测试电路及其制作方法、显示面板。阵列基板测试电路设置于基板上,基板包括至少两个显示单元,所述至少两个显示单元包括第一及第二显示单元,第一及第二显示单元均包括阵列测试电极区及成盒测试电极区,第一显示单元的成盒测试电极与第二显示单元的阵列测试电极一一对应电连接,以通过第一显示单元的成盒测试电极区驱动显示信号的输出,减少耦合、漏电及炸伤问题的发生,从而达到提升显示面板生产良率的目的。
搜索关键词: 阵列 测试 电路 及其 制作方法 显示 面板
【主权项】:
一种阵列基板测试电路,其特征在于,所述阵列基板测试电路设置于基板上,所述基板包括至少两个显示单元,所述至少两个显示单元包括第一显示单元及第二显示单元,所述第一及第二显示单元均包括阵列测试电极区及成盒测试电极区,所述阵列测试电极区包括若干阵列测试电极,所述成盒测试电极区包括若干成盒测试电极,所述第一显示单元的成盒测试电极与所述第二显示单元的阵列测试电极一一对应电连接,以通过所述第一显示单元的成盒测试电极区驱动显示信号的输出。
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