[发明专利]阵列基板测试电路及其制作方法、显示面板

权利要求书

1.一种阵列基板测试电路，其特征在于，所述阵列基板测试电路设置于基板上，所述基板包括至少两个显示单元，所述至少两个显示单元包括第一显示单元及第二显示单元，所述第一及第二显示单元均包括阵列测试电极区及成盒测试电极区，所述阵列测试电极区包括若干阵列测试电极，所述成盒测试电极区包括若干成盒测试电极，所述第一显示单元的成盒测试电极与所述第二显示单元的阵列测试电极一一对应电连接，以通过所述第一显示单元的成盒测试电极区驱动显示信号的输出。

2.根据权利要求1所述的阵列基板测试电路，其特征在于，所述第二显示单元位于所述第一显示单元的正下方。

3.根据权利要求1所述的阵列基板测试电路，其特征在于，所述第二显示单元位于所述第一显示单元的左侧或右侧，或者所述第二显示单元位于所述第一显示单元的左下方或右下方。

4.根据权利要求1所述的阵列基板测试电路，其特征在于，所述第一显示单元及所述第二显示单元均包括显示区域，所述阵列测试电极区位于所述显示区域的上方，所述成盒测试电极区位于所述显示区域的下方。

5.一种显示面板，其特征在于，所述显示面板包括阵列基板测试电路，所述阵列基板测试电路设置于基板上，所述基板包括至少两个显示单元，所述至少两个显示单元包括第一显示单元及第二显示单元，所述第一及第二显示单元均包括阵列测试电极区及成盒测试电极区，所述阵列测试电极区包括若干阵列测试电极，所述成盒测试电极区包括若干成盒测试电极，所述第一显示单元的成盒测试电极与所述第二显示单元的阵列测试电极一一对应电连接，以通过所述第一显示单元的成盒测试电极区驱动显示信号的输出。

6.根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，所述第二显示单元位于所述第一显示单元的正下方，或者所述第二显示单元位于所述第一显示单元的左侧或右侧，或者所述第二显示单元位于所述第一显示单元的左下方或者右下方。

7.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第一显示单元及所述第二显示单元均包括显示区域，所述阵列测试电极区位于所述显示区域的上方，所述成盒测试电极区位于所述显示区域的下方。

8.一种阵列基板测试电路的制作方法，其特征在于，所述方法包括：

提供一基板；

在所述基板上设置至少两个显示单元，所述至少两个显示单元包括第一显示单元及第二显示单元；

在所述第一及第二显示单元上均设置阵列测试电极区及成盒测试电极区，所述阵列测试电极区包括若干阵列测试电极，所述成盒测试电极区包括若干成盒测试电极；及

将所述第一显示单元的成盒测试电极与所述第二显示单元的阵列测试电极一一对应电连接，以通过所述第一显示单元的成盒测试电极区驱动显示信号的输出。

9.根据权利要求8所述的阵列基板测试电路的制作方法，其特征在于，所述在所述基板上设置至少两个显示单元，所述至少两个显示单元包括第一显示单元及第二显示单元包括：所述第二显示单元位于所述第一显示单元的正下方，或者所述第二显示单元位于所述第一显示单元的左侧或右侧，或者所述第二显示单元位于所述第一显示单元的左下方或者右下方。

10.根据权利要求8所述的阵列基板测试电路的制作方法，其特征在于，所述在所述第一及第二显示单元上均设置阵列测试电极区及成盒测试电极区包括：所述第一显示单元及所述第二显示单元均包括显示区域，所述阵列测试电极区位于所述显示区域的上方，所述成盒测试电极区位于所述显示区域的下方。