[发明专利]阵列基板测试电路及其制作方法、显示面板

说明书

技术领域

本发明涉及显示技术领域，特别是涉及一种阵列基板测试电路及其制作方法、显示面板。

背景技术

LTPS(Low temperature Poly Silicon，低温多晶硅)TFT LCD(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display，薄膜晶体管液晶显示器)近年来在手机上得到广泛应用，其高电路整合特性与低成本的优势，在中小尺寸显示面板的应用中有着绝对的优势。LTPS TFT LCD具有高分辨率、反应速度快、高亮度、高开口率等优点，通过将外围驱动电路同时制作在玻璃基板上，达到系统整合的目标、节省空间及驱动芯片的成本。

LTPS TFT LCD中的阵列制程是在一块很大的玻璃基板上均匀有序排布形成一个个阵列电路，所述玻璃基板在经过阵列测试项目并达标后，将在后续成盒制程的切割段被切割成一批小片的显示单元，每个显示单元都有一个独立的阵列电路，用于控制最终成品LCD面板的显示。

LTPS TFT LCD面板在其中一种阵列线路结构设计中，对于单个显示单元来说(如图1及图2所示)，通过几根贯穿于显示区域左右两侧的纵向金属走线(统称为阵列基板测试走线)，将位于显示区域上方的阵列测试电路相关信号连接到位于显示区域下方的成盒测试电路中，以借用成盒测试电路的部分线路来驱动纵向的显示信号的输出，从而完成阵列测试项目。这几根纵向的阵列基板测试走线与显示区域边缘的横向金属走线始终呈垂直交错的位置关系，在成盒测试项目中，这种交错的位置关系使横向的显示信号受到耦合影响，引起显示面板左右两侧的显示差异；另外交错位置也可能发生漏电，甚至会产生炸伤等异常问题，使显示面板的良率受到影响。

发明内容

本发明主要解决的技术问题是提供一种阵列基板测试电路及其方法、显示面板，避免阵列基板测试走线与显示区域边缘的金属走线产生交错，减少耦合、漏电及炸伤问题的发生，从而达到提升显示面板生产良率的目的。

为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是：提供一种阵列基板测试电路，所述阵列基板测试电路设置于基板上，所述基板包括至少两个显示单元，所述至少两个显示单元包括第一显示单元及第二显示单元，所述第一及第二显示单元均包括阵列测试电极区及成盒测试电极区，所述阵列测试电极区包括若干阵列测试电极，所述成盒测试电极区包括若干成盒测试电极，所述第一显示单元的成盒测试电极与所述第二显示单元的阵列测试电极一一对应电连接，以通过所述第一显示单元的成盒测试电极区驱动显示信号的输出。

为解决上述技术问题，本发明采用的另一个技术方案是：提供一种显示面板，所述显示面板包括阵列基板测试电路，所述阵列基板测试电路设置于基板上，所述基板包括至少两个显示单元，所述至少两个显示单元包括第一显示单元及第二显示单元，所述第一及第二显示单元均包括阵列测试电极区及成盒测试电极区，所述阵列测试电极区包括若干阵列测试电极，所述成盒测试电极区包括若干成盒测试电极，所述第一显示单元的成盒测试电极与所述第二显示单元的阵列测试电极一一对应电连接，以通过所述第一显示单元的成盒测试电极区驱动显示信号的输出。

为解决上述技术问题，本发明采用的另一个技术方案是：提供一种阵列基板测试电路的制作方法，所述方法包括：

提供一基板；

在所述基板上设置至少两个显示单元，所述至少两个显示单元包括第一显示单元及第二显示单元；

在所述第一及第二显示单元上均设置阵列测试电极区及成盒测试电极区，所述阵列测试电极区包括若干阵列测试电极，所述成盒测试电极区包括若干成盒测试电极；及

将所述第一显示单元的成盒测试电极与所述第二显示单元的阵列测试电极一一对应电连接，以通过所述第一显示单元的成盒测试电极区驱动显示信号的输出。

本发明的有益效果是：区别于现有技术的情况，本发明的所述阵列基板测试电路通过将所述至少两个显示单元中的第一显示单元的成盒测试电极电性连接至所述第二显示单元的阵列测试电极，以避免纵向的阵列测试走线与显示区域边缘的横向金属走线产生交错的位置关系，以此通过所述第一显示单元的成盒测试电极控制显示信号的输出，从而完成对所述第一显单元的阵列测试项目，减少耦合、漏电及炸伤问题的发生，从而达到提升显示面板生产良率的目的。

附图说明

图1是现有技术的一个显示单元的结构示意图；

图2是现有技术的阵列基板测试电路的结构示意图；

图3是本发明的阵列基板测试电路的第一实施例的结构示意图；