[发明专利]一种测试控制电路、芯片及测试控制方法在审
| 申请号： | 201710037683.1 | 申请日： | 2017-01-18 |
| 公开（公告）号： | CN106771981A | 公开（公告）日： | 2017-05-31 |
| 发明（设计）人： | 张祥杉;高鹰;杨金辉;杨敬 | 申请（专利权）人： | 大唐微电子技术有限公司;大唐半导体设计有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司11262 | 代理人： | 韩辉峰,李丹 |
| 地址： | 100094*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测试控制电路、芯片及测试控制方法，包括测试使能单元，用于产生测试使能信号，并将产生的测试使能信号输出至电源控制单元、验证单元和测试激励单元；电源控制单元，根据接收的测试使能信号，确定是否向验证单元供电；验证单元，用于在供电状态下，当接收的测试使能信号有效时，验证划片槽是否被划片，如果划片槽未被划片，产生允许测试的信号至测试激励单元；测试激励单元，用于当接收的测试使能信号和允许测试的信号均有效时，产生用于测试被测电路的测试激励信号。本发明能够有效降低测试控制电路在非测试模式下的静态功耗。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 控制电路 芯片 控制 方法 | ||
【主权项】：
一种测试控制电路，其特征在于，包括：测试使能单元、电源控制单元、验证单元和测试激励单元，其中，所述测试使能单元，用于产生测试使能信号，并将产生的测试使能信号输出至电源控制单元、验证单元和测试激励单元；所述电源控制单元，用于根据接收的测试使能信号确定是否向验证单元供电；所述验证单元，用于在供电状态下，当接收的测试使能信号有效时，验证划片槽是否被划片；如果划片槽未被划片，产生允许测试的信号至测试激励单元；所述测试激励单元，用于当接收的测试使能信号和允许测试的信号均有效时，产生用于测试被测电路的测试激励信号。
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