[发明专利]一种测试控制电路、芯片及测试控制方法

说明书

技术领域

本发明涉及电子技术领域，尤其涉及一种测试控制电路、芯片及测试控制方法。

背景技术

为了提高产品的可靠性，芯片出厂前需要进行系统的测试。通常在芯片内部集成测试电路，通过测试电路直接对芯片进行测试以提高测试效率。由于在测试模式下，测试者对芯片中的存储器拥有全部操作权限，为保护存储在芯片内用户数据的安全，在芯片测试完成后要退出测试模式。

在公开号为“CN104678284A”，发明名称为“一种提高芯片健壮性的新型测试控制电路和方法”的申请中，提到了通过测试使能信号控制测试电路的时钟信号和复位信号，在测试使能信号无效后，测试控制电路时钟信号被关闭，同时测试控制电路复位信号保持低电平，使得测试控制电路无法启动，从而大大降低芯片异常进入测试模式的概率，同时也降低了测试控制电路的动态功耗。但是，在非测试模式下，处于复位状态并且没有时钟信号的测试控制电路，仍然存在静态功耗，且在小尺寸工艺下这种静态功耗更为突显。此时，测试控制电路产生了不必要的静态功耗，降低了芯片的性能。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种测试控制电路、芯片及测试控制方法，能够有效降低测试控制电路在非测试模式下的静态功耗。

为了达到本发明目的，本发明实施例的技术方案是这样实现的：

本发明实施例提供了一种测试控制电路，包括：测试使能单元、电源控制单元、验证单元和测试激励单元，其中，

所述测试使能单元，用于产生测试使能信号，并将产生的测试使能信号输出至电源控制单元、验证单元和测试激励单元；

所述电源控制单元，用于根据接收的测试使能信号确定是否向验证单元供电；

所述验证单元，用于在供电状态下，当接收的测试使能信号有效时，验证划片槽是否被划片；如果划片槽未被划片，产生允许测试的信号至测试激励单元；

所述测试激励单元，用于当接收的测试使能信号和允许测试的信号均有效时，产生用于测试被测电路的测试激励信号。

进一步地，所述电源控制单元具体用于：

当所述测试使能信号有效时，产生高电平的电源信号，以为所述验证单元供电；

当所述测试使能信号无效时，产生高阻态或低电平的电源信号，以关断所述验证单元的电源。

进一步地，所述电源控制单元为缓冲器或三态门。

进一步地，所述验证单元包括位于芯片内的随机信号源模块、第二处理模块、判断模块以及位于所述划片槽内的第一处理模块，其中，

所述随机信号源模块，用于产生随机信号，并输出至所述第一处理模块和所述判断模块；

所述第一处理模块，用于使用预设的加密算法对接收的随机信号进行加密处理，并将加密后的信号输出至所述第二处理模块；

所述第二处理模块，用于使用预设的解密算法对接收的加密后的信号进行解密处理，并将解密后的信号输出至所述判断模块；

所述判断模块，用于将接收的随机信号和解密后的信号进行对比，如果相同，输出允许测试的信号至所述测试激励单元。

进一步地，所述电源控制单元分别与所述第一处理模块、所述第二处理模块和所述判断模块相连接。

进一步地，所述电源控制单元还与所述测试激励单元相连接，用于当接收的测试使能信号无效时，关断所述测试激励单元的电源。

本发明实施例还提供了一种芯片，包括以上任一项所述的测试控制电路。

本发明实施例还提供了一种测试控制方法，包括：

产生测试使能信号；

判断测试使能信号是否有效；

当所述测试使能信号有效时，验证划片槽是否被划片；如果划片槽未被划片，产生测试激励信号，测试被测电路；

当所述测试使能信号无效时，关断测试控制电路的电源。

进一步地，所述验证划片槽是否被划片，具体包括：

芯片产生随机信号，并输出至所述划片槽；

所述划片槽使用预设的加密算法对所述随机信号进行加密处理，产生输出信号至所述芯片；

所述芯片使用预设的解密算法对所述划片槽的输出信号进行解密处理，并将其和所述随机信号进行对比，如果相同，则所述划片槽未被划片。

进一步地，当所述测试使能信号无效时，通过缓冲器或三态门输出高阻态或低电平的电源信号，进而关断所述测试控制电路的电源。