[发明专利]一种测试控制电路、芯片及测试控制方法

权利要求书

1.一种测试控制电路，其特征在于，包括：测试使能单元、电源控制单元、验证单元和测试激励单元，其中，

所述测试使能单元，用于产生测试使能信号，并将产生的测试使能信号输出至电源控制单元、验证单元和测试激励单元；

所述电源控制单元，用于根据接收的测试使能信号确定是否向验证单元供电；

所述验证单元，用于在供电状态下，当接收的测试使能信号有效时，验证划片槽是否被划片；如果划片槽未被划片，产生允许测试的信号至测试激励单元；

所述测试激励单元，用于当接收的测试使能信号和允许测试的信号均有效时，产生用于测试被测电路的测试激励信号。

2.根据权利要求1所述的测试控制电路，其特征在于，所述电源控制单元具体用于：

当所述测试使能信号有效时，产生高电平的电源信号，以为所述验证单元供电；

当所述测试使能信号无效时，产生高阻态或低电平的电源信号，以关断所述验证单元的电源。

3.根据权利要求2所述的测试控制电路，其特征在于，所述电源控制单元为缓冲器或三态门。

4.根据权利要求1所述的测试控制电路，其特征在于，所述验证单元包括位于芯片内的随机信号源模块、第二处理模块、判断模块以及位于所述划片槽内的第一处理模块，其中，

所述随机信号源模块，用于产生随机信号，并输出至所述第一处理模块和所述判断模块；

所述第一处理模块，用于使用预设的加密算法对接收的随机信号进行加密处理，并将加密后的信号输出至所述第二处理模块；

所述第二处理模块，用于使用预设的解密算法对接收的加密后的信号进行解密处理，并将解密后的信号输出至所述判断模块；

所述判断模块，用于将接收的随机信号和解密后的信号进行对比，如果相同，输出允许测试的信号至所述测试激励单元。

5.根据权利要求4所述的测试控制电路，其特征在于，所述电源控制单元分别与所述第一处理模块、所述第二处理模块和所述判断模块相连接。

6.根据权利要求5所述的测试控制电路，其特征在于，所述电源控制单元还与所述测试激励单元相连接，用于当接收的测试使能信号无效时，关断所述测试激励单元的电源。

7.一种芯片，其特征在于，包括权利要求1～权利要求6任一项所述的测试控制电路。

8.一种测试控制方法，其特征在于，包括：

产生测试使能信号；

判断测试使能信号是否有效；

当所述测试使能信号有效时，验证划片槽是否被划片；如果划片槽未被划片，产生测试激励信号，测试被测电路；

当所述测试使能信号无效时，关断测试控制电路的电源。

9.根据权利要求8所述的测试控制方法，其特征在于，所述验证划片槽是否被划片，具体包括：

芯片产生随机信号，并输出至所述划片槽；

所述划片槽使用预设的加密算法对所述随机信号进行加密处理，产生输出信号至所述芯片；

所述芯片使用预设的解密算法对所述划片槽的输出信号进行解密处理，并将其和所述随机信号进行对比，如果相同，则所述划片槽未被划片。

10.根据权利要求8所述的测试控制方法，其特征在于，当所述测试使能信号无效时，通过缓冲器或三态门输出高阻态或低电平的电源信号，进而关断所述测试控制电路的电源。