[发明专利]缺陷检测系统及方法有效
| 申请号： | 201710035668.3 | 申请日： | 2017-01-17 |
| 公开（公告）号： | CN106896113B | 公开（公告）日： | 2021-08-17 |
| 发明（设计）人： | 林宽宏;吴柏徵 | 申请（专利权）人： | 住华科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/95 | 分类号： | G01N21/95 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 梁挥;鲍俊萍 |
| 地址： | 中国台湾台南*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 一种用于检测被移送的光学薄膜的缺陷检测系统，包括光源、影像捕获设备及狭缝板。光源配置于光学薄膜的一侧，影像捕获设备配置于光学薄膜的另一侧。狭缝板具有狭缝，狭缝板配置于光源与光学薄膜之间，以使入射光线穿过狭缝。其中，影像捕获设备偏移自光源与狭缝的延伸连线。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 检测 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种缺陷检测系统，用于检测被移送的一光学薄膜，其特征在于，包括：一光源，配置于该光学薄膜的一侧；一影像捕获设备，配置于该光学薄膜的另一侧；以及一狭缝板，具有一狭缝，该狭缝板配置于该光源与该光学薄膜之间，以使一入射光线穿过该狭缝；其中，该影像捕获设备偏移自该光源与该狭缝的延伸连线。
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